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杭州高谱成像技术有限公司赵云龙获国家专利权

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龙图腾网获悉杭州高谱成像技术有限公司申请的专利一种高光谱相机非线性光谱定标方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120403861B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510896885.6,技术领域涉及:G01J3/02;该发明授权一种高光谱相机非线性光谱定标方法及系统是由赵云龙;江晓欣;潘明忠;马强设计研发完成,并于2025-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

一种高光谱相机非线性光谱定标方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种高光谱相机非线性光谱定标方法及系统,包括:S1:在任一环境参数下,采集多区域标准物质定标板的高反射区、中反射区和低反射区的像元亮度值作为原始数据;S2:构建校正查找表,校正查找表包含不同环境下的拟合系数;S3:判断环境变化值是否超过阈值,若不超过阈值,则采用校正系数计算误差项,若超过阈值,则在实时环境参数下,重复S1、S2和S3进行拟合系数校准以及误差项的计算;S4:基于误差项和初步反射率计算得到实际反射率,S5:计算波长偏移量,基于全谱段的波长偏移量校正全谱段的波长,通过对环境参数进行实时补偿,基于环境变化动态修正反射率计算模型,确保定标过程不受环境因素干扰,保持稳定。

本发明授权一种高光谱相机非线性光谱定标方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种高光谱相机非线性光谱定标方法,其特征在于,包括: S1:在任一环境参数下,采用待定标高光谱相机依次拍摄多区域标准物质定标板的高反射区、中反射区和低反射区的像元亮度值作为原始数据; S2:根据同一标准物质的真实反射率与像元亮度值的非线性关系计算两者的关系参数,对关系参数进行拟合生成校正查找表,校正查找表包含不同环境下的拟合系数; S3:采用待定标高光谱相机采集不同的环境参数并进行分析处理获取不同的环境参数对应的校正系数,计算实时环境参数与S2的环境参数的变化值,判断变化值是否超过阈值,若不超过阈值,则采用校正系数计算误差项,若超过阈值,则在实时环境参数下,重复S1、S2和S3进行拟合系数校准以及误差项的计算; S4:根据同一标准物质的真实反射率与像元亮度值的非线性关系,带入校准后的拟合系数计算初步反射率,将误差项和初步反射率相加得到实际反射率; S5:对初步反射率所形成的反射率曲线进行寻峰,得到实际特征峰波长,将实际特征峰波长与标准物质的特征波长对比分析得到波长偏移量,基于波长偏移量计算全谱段的波长偏移量,基于全谱段的波长偏移量校正全谱段的波长; S6:将校正后的光谱数据、实时环境参数、校准后的拟合系数、全谱段的波长偏移量以及误差项作为生成的高精度定标参数存入历史定标参数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人杭州高谱成像技术有限公司,其通讯地址为:310000 浙江省杭州市西湖区转塘街道转塘科技经济区块3号2幢5层503室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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