中国科学院上海技术物理研究所王跃明获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利对宽谱段相机进行量子效率测试的方法及装置、电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120263964B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510433454.6，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权对宽谱段相机进行量子效率测试的方法及装置、电子设备是由王跃明;吴任飞;吴寅;何道刚;冯浩洋;苏桂光设计研发完成，并于2025-04-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本对宽谱段相机进行量子效率测试的方法及装置、电子设备在说明书摘要公布了：本发明涉及光学测量领域，提供一种对宽谱段相机进行量子效率测试的方法及装置、电子设备，方法包括：获取目标相机接收到的入射光子数，所述目标相机为待测的宽谱段相机，所述入射光子数为在目标单色光的触发下产生的入射光子的数量，所述目标单色光为设定波长的单色光；获取所述目标相机响应于所述目标单色光产生的响应电子数；基于所述入射光子数以及所述响应电子数，计算所述目标相机对应于所述目标单色光的量子效率。用以解决相关技术中对宽谱段相机进行量子效率测试时误差较大，且重复精度低的缺陷，本申请的方案中不需要预先标定数据，每次测试误差更小，精确度更高。
本发明授权对宽谱段相机进行量子效率测试的方法及装置、电子设备在权利要求书中公布了：1.对宽谱段相机进行量子效率测试的方法，其特征在于，包括： 获取目标相机接收到的入射光子数，所述目标相机为待测的宽谱段相机，所述入射光子数为所述目标相机在目标单色光的触发下产生的入射光子的数量，所述目标单色光为设定波长的单色光； 获取所述目标相机响应于所述目标单色光产生的响应电子数； 基于所述入射光子数以及所述响应电子数，计算所述目标相机对应于所述目标单色光的量子效率； 所述获取目标相机接收到的入射光子数，包括： 获取所述目标单色光对应的光谱曲线，所述光谱曲线的横坐标为所述目标单色光的波长，纵坐标为所述目标单色光的辐照度； 基于所述光谱曲线，确定所述目标相机接收到的入射光子数； 所述获取所述目标相机响应于所述目标单色光产生的响应电子数，包括： 确定所述目标相机响应于所述目标单色光产生的第一输出电压； 确定所述目标相机在未接受光源照射时产生的第二输出电压； 基于所述第一输出电压以及所述第二输出电压，确定所述目标相机响应于所述目标单色光产生的响应电子数。
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