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龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所申请的专利面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119290801B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411434634.8，技术领域涉及：G01N21/3586；该发明授权面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法是由黎华;路彦铭设计研发完成，并于2024-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法，包括以下步骤：将双光梳的某根梳齿信号下转换到设定频段作为第一处理信号；采集第一处理信号在第一设定时间内的时域信息，分析第一时域信息获得所述任意一个梳齿的梳齿信息；采用设定频率对光源激光器进行调制以模拟近场配置下探针振动对散射光强的调制，获取调制后自探测太赫兹双光梳的交流信号作为第二处理信号；采集第二处理信号在第二设定时间内的时域信息获得第二时域信息，分析第二时域信息获得自探测太赫兹双光梳的边带信息作为近场成像信息。本发明能够高速提取和处理太赫兹自探测双光梳信号在微秒尺度下的光谱变化信息，并为近场自探测双光梳成像应用提供支持。

本发明授权面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法在权利要求书中公布了：1.一种面向近场成像的自探测太赫兹双光梳谱信息高速提取方法，其特征在于，包括以下步骤： 利用第一激光器生成第一光频梳并将所述第一光频梳耦合至第二激光器； 利用所述第二激光器生成第二光频梳，并通过所述第二激光器将所述第二光频梳与接收到的所述第一光频梳进行拍频生成自探测太赫兹双光梳； 针对峰值力扫描近场成像的应用场景选择第一提取方法、或针对探针振动调制扫描近场成像的应用场景选择第二提取方法，来获取所述自探测太赫兹双光梳的谱信息； 所述第一提取方法包括以下步骤： 获取所述自探测太赫兹双光梳的交流信号并提取其中一个梳齿下转换到设定频段，获得该梳齿的第一处理信号； 采集所述第一处理信号在第一设定时间内的时域信息，获得第一时域信息； 分析所述第一时域信息获得当前梳齿的梳齿信息； 获取所述自探测太赫兹双光梳全部梳齿的所述梳齿信息作为近场成像信息； 所述第二提取方法包括以下步骤： 采用设定频率对所述第一激光器进行调制以模拟近场配置下探针振动对散射光的调制； 获取调制后所述自探测太赫兹双光梳的交流信号作为第二处理信号； 采集所述第二处理信号在第二设定时间内的时域信息，获得第二时域信息； 分析所述第二时域信息获得所述自探测太赫兹双光梳的边带信息作为近场成像信息。

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