康佳芯云半导体科技(盐城)有限公司陈月东获国家专利权
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龙图腾网获悉康佳芯云半导体科技(盐城)有限公司申请的专利一种芯片老化测试自动上下料系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223308322U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422259115.4，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种芯片老化测试自动上下料系统是由陈月东;贲锋;蔡曜年设计研发完成，并于2024-09-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片老化测试自动上下料系统在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种芯片老化测试自动上下料系统，包括对测试板进行检测并根据检测结果输出测试座信息的维护终端；将未检测的芯片插入测试座，或将检测后的芯片从测试座拔出的插拔机；对芯片进行测试并根据测试结果输出芯片信息的老化测试机；接收测试座信息并生成上料信息，将上料信息传输至插拔机，接收芯片信息生成下料信息，将下料信息传输至插拔机的服务器。通过服务器实现维护终端、插拔机与老化测试机的数据共享，从而能够自动关闭异常测试座的坐标，避免异常测试座上料后导致的无效测试，并能够根据测试结果对芯片进行分类，提升了测试效率和测试的准确性。
本实用新型一种芯片老化测试自动上下料系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化测试自动上下料系统，其特征在于，包括： 维护终端，用于对测试板上的所有测试座进行检测，并根据检测结果输出测试座信息； 插拔机，用于将未检测的芯片插入测试板的测试座上，或将检测后的芯片从测试板的测试座上拔出； 老化测试机，用于对安装在测试板上的芯片进行老化测试，并根据测试结果输出芯片信息； 服务器，用于接收维护终端输出的测试座信息，根据所述测试座信息生成上料信息，将所述上料信息传输至插拔机，插拔机根据所述上料信息向测试板上插装芯片；并用于接收老化测试机输出的芯片信息，根据所述芯片信息生成下料信息，将所述下料信息传输至插拔机，插拔机根据所述下料信息将测试板上的芯片拔出并分类放置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人康佳芯云半导体科技(盐城)有限公司，其通讯地址为：224000 江苏省盐城市盐都区盐龙街道盐渎路1019号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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