无锡玖熠半导体科技有限公司钱静洁获国家专利权
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龙图腾网获悉无锡玖熠半导体科技有限公司申请的专利基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116298832B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310152503.X,技术领域涉及:G01R31/3185;该发明授权基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法是由钱静洁;马凌设计研发完成,并于2023-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法在说明书摘要公布了:本申请公开基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法,涉及EDA检测领域,确定芯片扫描链总数及最大故障扫描链数目,生成待测向量集和屏蔽信号;依次选取测试向量,根据屏蔽信号及故障排列组合对扫描链进行故障屏蔽诊断,确定目标扫描链;更新屏蔽信号,在检测故障覆盖率满足系统设定阈值时,生成目标测试向量集和目标屏蔽信号集;屏蔽信号解码器根据目标测试向量和目标屏蔽信号对目标扫描链进行屏蔽测试,根据扫描链压缩器的压缩响应输出对扫描链故障进行诊断分析。遵照故障检测权重越高的扫描链越需要被先观察,屏蔽权重值越低的组合中出现次数越高的扫描链越需要屏蔽原则确定测试向量和屏蔽信号,可以大幅提高诊断效率和诊断精度。
本发明授权基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法在权利要求书中公布了:1.一种基于压缩环境的故障扫描链屏蔽方法,其特征在于,所述方法包括: S1,通过ATPG算法检测确定芯片的扫描链总数及最大故障扫描链数目,并生成待测向量集和屏蔽信号;所述屏蔽信号作用于扫描链屏蔽信号解码器,用于屏蔽选中的目标扫描链; S2,从待测向量集中逐次选取测试向量,根据所述屏蔽信号及故障扫描链组成的所有故障排列组合对扫描链进行故障屏蔽诊断,确定用于屏蔽的目标扫描链; S3,根据所述目标扫描链更新所述屏蔽信号,在检测故障覆盖率满足系统设定阈值时,确定所有目标测试向量和对应的目标屏蔽信号,生成目标测试向量集和目标屏蔽信号集; S4,所述屏蔽信号解码器根据所述目标测试向量和目标屏蔽信号对所述目标扫描链进行屏蔽测试,并根据扫描链压缩器的压缩响应输出对扫描链故障进行诊断分析。
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