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龙图腾网获悉中国科学院电工研究所申请的专利一种铁片匀场方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114636958B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210228506.2，技术领域涉及：G01R33/3873；该发明授权一种铁片匀场方法是由王耀辉;王秋良设计研发完成，并于2022-03-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种铁片匀场方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种铁片匀场方法，以磁场均匀度偏差一范数与铁片厚度加权为目标函数。通过引入额外变量，实现磁场均匀度偏差一范数的去绝对值转换，使得目标函数转换为线性形式，再在原有铁片厚度约束中加入新引入变量的非负性约束以及磁场偏差一范数去绝对值后的等式约束，如此构成新的线性优化体系。进一步引入最小铁片厚度，对原有铁片厚度变量进行数值变换，然后形成新的待求解变量。通过整数优化算法对新的线性优化体系进行求解，得到铁片分布的整数解。本发明采用一台9.4T人体磁共振成像超导磁体初始磁场数据，使得上述高性能铁片匀场方法的匀场效果得到验证。

本发明授权一种铁片匀场方法在权利要求书中公布了：1.一种铁片匀场方法，基于整数优化的铁片匀场磁场均匀度偏差一范数最小化运算方法，其特征在于，包括如下步骤：建立基于整数优化的铁片匀场磁场均匀度偏差一范数最小化运算方法的目标函数为： （1） 约束条件为： （2） 其中，X为待求解的匀场槽内的铁片厚度变量，A为铁片厚度到铁片磁化场空间分布的传递矩阵，b为磁体基础磁场，tmax为最大允许铁片厚度，w为加权系数，mean（Ax+b）为平均计算； 将带有磁场均匀度偏差一范数的目标函数转换为线性目标函数包括： 经过矩阵合并，目标函数转化为： （4） 然后通过去绝对值进行线性转换，即引入变量U和V，使得|A'X+b'|=U+V，A'X+b'=U-V，且U≥0，V≥0；将铁片厚度转换为铁片片数与最小铁片厚度的乘积，即X=tminX'； 目标函数进一步转化为： （5） 约束条件： （6） 其中，A'为系数合并后的传递矩阵，b'为转换后的磁场，tmin为最小铁片厚度，X'为铁片片数变量，铁片片数变量X'和新引入变量U、V组成了新的待求解变量体系[X';U;V]。

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