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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种探地雷达分层介质参数反演方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994658B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210201235.1，技术领域涉及：G01S13/88；该发明授权一种探地雷达分层介质参数反演方法是由杨小鹏;刘仁杰;李奕璇;兰天;渠晓东设计研发完成，并于2022-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探地雷达分层介质参数反演方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种探地雷达分层介质参数反演方法，能够在计算量小的前提下实现分层介质的精确反演，适用于多层介质模型。本发明首先通过传统CMP方法实现第一层参数反演，然后利用该信息，基于分层介质模型构建不同偏移距下的传播方程，同时利用斯涅尔定律表示分层界面折射点位置，最小化分层处折射效应带来的误差，通过传播方程与斯涅尔定律的联立建立介质参数反演的代价函数。然后针对多个自变量的代价函数求导困难的问题，以枚举法进行大致寻优，获取初始值，以模式搜索方法进行精确寻优，输出多层参数的理想解，实现分层介质的精确反演，为后续的地下目标成像与识别检测提供精确的先验结构信息。

本发明授权一种探地雷达分层介质参数反演方法在权利要求书中公布了：1.一种探地雷达分层介质参数反演方法，其特征在于，通过CMP方法实现第一层参数反演，然后利用第一层参数反演信息，基于分层介质模型构建不同偏移距下的传播方程，同时利用斯涅尔定律表示分层界面折射点位置，通过传播方程与斯涅尔定律的联立建立介质参数反演的代价函数；获取近似折射点的位置，然后将近似折射点位置带入传播方程的代价函数，构建折射点近似的代价函数；基于折射点近似的代价函数，利用枚举法实现估计，然后基于斯涅尔定律的代价函数，利用模式搜索方法实现介质参数反演； 通过CMP方法实现第一层参数反演的方式为：建立单层CMP模型，根据不同收发间距下的传播方程，第一层的相对介电常数与层厚表示为： 其中，m表示探地雷达测量的A-scan道数，d1,εr1分别表示第一层介质的厚度与相对介电常数，εr1,jd1,j分别表示第j组收发间距下求解出的第一层介质的相对介电常数与层厚，j＝1,2,3…m-1； 根据不同收发间距下的传播方程，对应的最小二乘代价函数为： 其中，m表示探地雷达测量的A-scan道数，n表示分层介质层数，c表示光速，Lj表示第j道A-scan下收发天线的间距，j＝1,2,3…m-1，εri,j,di,j分别表示第j道A-scan下第i层分层介质的相对介电常数与厚度，i＝1,2,3…n，xi,j表示第j道A-scan下第i个分层界面处的折射点位置，Δti,j表示第j道A-scan下第i层界面反射波与空气直达波的传播时间差； 基于斯涅尔定律的最小二乘代价函数为： 其中，x1表示第1个分层界面的折射点位置，d1表示第一层介质的厚度。

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