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龙图腾网获悉山东岱微电子有限公司申请的专利DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114283876B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111603654.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备是由邓冏;蒋增城设计研发完成，并于2021-12-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备在说明书摘要公布了：本申请提供了一种DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备，该方法包括：获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de‑skew值，将所述de‑skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值；控制所述de‑skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值；根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小。该方法调整DDR信号的de‑skew值来确定de‑skew值的最大值和最小值，从而得到DDR信号的窗口大小，DDR信号的窗口越大，DDR信号的信号质量越好，无需对信号线刮线、焊接等操作，简化了测试操作，解决现有技术中DDR信号质量测试方法过于复杂的问题。

本发明授权DDR信号质量的测试方法、测试装置与测试设备在权利要求书中公布了：1.一种DDR信号质量的测试方法，其特征在于，包括： 获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de-skew值，将所述de-skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值，所述轻载工作模式为所述芯片的负载率小于第一预定值的工作模式； 控制所述de-skew值以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值； 根据所述窗口边界值确定所述DDR待测信号的窗口大小； 所述控制所述初始中心值变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值，包括： 控制所述DDR待测信号的de-skew值从所述初始中心值递增，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最大值； 控制所述DDR待测信号的de-skew值从所述初始中心值递减，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口最小值； 在获取芯片在轻载工作模式下的DDR待测信号的de-skew值，将所述de-skew值作为所述DDR待测信号窗口扫描的初始中心值之后，控制所述de-skew值，以所述初始中心值为中心变化，直至所述芯片无法正常工作，得到窗口边界值之前，所述方法还包括： 控制所述芯片进入重载工作模式，所述重载工作模式为所述芯片的负载率大于第二预定值的工作模式，所述第二预定值大于或者等于所述第一预定值。

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