深圳市海谱纳米光学科技有限公司黄创文获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市海谱纳米光学科技有限公司申请的专利一种用于待测元器件的测试治具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113655254B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111151946.4，技术领域涉及：G01R1/073；该发明授权一种用于待测元器件的测试治具是由黄创文;林琳设计研发完成，并于2021-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于待测元器件的测试治具在说明书摘要公布了：本申请公开了一种用于待测元器件的测试治具，包括上盖和下盖，所述上盖和下盖之间设有中间可容纳待测元器件的凹槽，所述上盖上对应于所述待测元器件的位置设有弹片结构，所述弹片结构是导电材质，所述弹片结构从所述上盖的外围朝向所述上盖的中心延伸，以使得当所述上盖和下盖盖合时所述弹片结构能够与所述凹槽中的待测器件相接触。通过采用上述结构，待测元器件进行测试时，除弹片结构与待测元器件接触的部位外，其余部位不承受压力，弹片结构降低了施加在待测元器件上的扭力，同时又实现了电气连接，使该治具成为一种无损的测试治具，极大降低了待测元器件测试时产生的破损率。
本发明授权一种用于待测元器件的测试治具在权利要求书中公布了：1.一种用于待测元器件的测试治具，其特征在于，包括上盖和下盖，所述上盖和下盖之间设有中间可容纳待测元器件的凹槽，所述上盖上对应于所述待测元器件的位置设有弹片结构，所述弹片结构是导电材质，所述弹片结构从所述上盖的外围朝向所述上盖的中心延伸，以使得当所述上盖和下盖盖合时所述弹片结构能够与所述凹槽中的待测元器件相接触；所述弹片结构包括弹片和垫片，所述弹片的端点与所述垫片所在平面有高度差，所述弹片的端部与所述待测元器件接触。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市海谱纳米光学科技有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区69区中粮创芯研发中心1栋1903，1904；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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