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龙图腾网获悉国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司申请的专利电缆缓冲层轴向电阻率测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111913042B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010899956.5，技术领域涉及：G01R27/08；该发明授权电缆缓冲层轴向电阻率测试装置及测试方法是由张静;刘熙;江翼;罗子秋;万星辰;董一夫;刘正阳设计研发完成，并于2020-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本电缆缓冲层轴向电阻率测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电缆缓冲层轴向电阻率测试装置，它的第一电压测试电极、第二电压测试电极、第一电流测试电极、第二电流测试电极嵌入并固定在下绝缘压块中，第一电流测试电极位于第一电压测试电极的外侧，第二电流测试电极位于第二电压测试电极的外侧；电缆缓冲层试样位于上绝缘压块和下绝缘压块之间，第一电压测试电极、第二电压测试电极、第一电流测试电极、第二电流测试电极能与电缆缓冲层试样的半导电无纺布层接触，直流电源的一端通过电流表连接第一电流测试电极，直流电源的另一端连接第二电流测试电极，电压表的一端连接第一电压测试电极，电压表的另一端连接第二电压测试电极。本发明能够快速、准确测试电缆缓冲层轴向电阻率。

本发明授权电缆缓冲层轴向电阻率测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种利用电缆缓冲层轴向电阻率测试装置进行电缆缓冲层轴向电阻率测试的方法，其特征在于：电缆缓冲层轴向电阻率测试装置包括上绝缘压块1、下绝缘压块2、第一电压测试电极3、第二电压测试电极4、第一电流测试电极5、第二电流测试电极6、电流表11、电压表12和直流电源13，其中，第一电压测试电极3、第二电压测试电极4、第一电流测试电极5、第二电流测试电极6嵌入并固定在下绝缘压块2中，第一电流测试电极5位于第一电压测试电极3的外侧，第二电流测试电极6位于第二电压测试电极4的外侧； 电缆缓冲层试样15位于上绝缘压块1和下绝缘压块2之间，第一电压测试电极3、第二电压测试电极4、第一电流测试电极5、第二电流测试电极6能与电缆缓冲层试样15的半导电无纺布层18接触，直流电源13的一端通过电流表11连接第一电流测试电极5，直流电源13的另一端连接第二电流测试电极6，电压表12的一端连接第一电压测试电极3，电压表12的另一端连接第二电压测试电极4； 所述上绝缘压块1的顶端设置有绝缘施压块7，所述绝缘施压块7通过固定杆8与上绝缘压块1的顶端固定连接，绝缘施压块7由多个子模块构成，每个子模块相互独立，所述下绝缘压块2与电缆缓冲层试样15之间设有压力测试模块14； 所述上绝缘压块1中嵌入并固定有第一电压测试备用电极3.1、第二电压测试备用电极4.1、第一电流测试备用电极5.1、第二电流测试备用电极6.1，所述第一电压测试备用电极3.1与第一电压测试电极3同轴，第二电压测试备用电极4.1与第二电压测试电极4同轴，第一电流测试电极5与第一电流测试备用电极5.1同轴，第二电流测试电极6与第二电流测试备用电极6.1同轴，当下绝缘压块2中的电极出现故障时，将上绝缘压块1与下绝缘压块2的位置对换，并按下绝缘压块2的接线方式进行第一电压测试备用电极3.1、第二电压测试备用电极4.1、第一电流测试备用电极5.1、第二电流测试备用电极6.1与电流表11、电压表12和直流电源13之间的接线； 电缆缓冲层试样15为电缆缓冲层圆片，由蓬松棉层16、阻水粉17、半导电无纺布层18三层结构构成； 它还包括导向柱10，所述导向柱10穿过下绝缘压块2和上绝缘压块1，且上绝缘压块1能在导向柱10上上下滑动，该导向柱10有左右两个，两个导向柱10用于保证第一电压测试电极3、第二电压测试电极4、第一电流测试电极5、第二电流测试电极6准确的与电缆缓冲层试样15的对应测试区域接触； 包括如下步骤： 步骤1：将电缆缓冲层试样15置于上绝缘压块1和下绝缘压块2之间； 步骤2：绝缘施压块7通过上绝缘压块1向电缆缓冲层试样15施加预设压力，直流电源13、电流表11、第一电流测试电极5、电缆缓冲层试样15、第二电流测试电极6构成测试电流回路； 电压表12、第一电压测试电极3、电缆缓冲层试样15、第二电压测试电极4构成测试电压回路； 步骤3：通过直流电源13提供测试用电压，根据欧姆定律利用电压表12检测的电压U、电流表11检测的电流I和电极间的距离S得到电缆缓冲层试样15的轴向电阻R，从而得到电缆缓冲层试样15的轴向电阻率ρ； 第一电流测试电极5、第一电压测试电极3、第二电压测试电极4及第二电流测试电极6在同一平面的同一水平线上，其间距S分别为S1、S2、S3、S4； 轴向电阻率ρ： 若S1＝S2＝S3＝S4＝S，则轴向电阻率ρ： ρ＝2πSUI。

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