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上海安其威微电子科技有限公司张欣蕾获国家专利权

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龙图腾网获悉上海安其威微电子科技有限公司申请的专利用于测试待测单元射频特性的测试系统及其校准方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120254575B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510756990.X,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权用于测试待测单元射频特性的测试系统及其校准方法是由张欣蕾;蔡鹏设计研发完成,并于2025-06-06向国家知识产权局提交的专利申请。

用于测试待测单元射频特性的测试系统及其校准方法在说明书摘要公布了:本申请提供了一种用于测试待测单元射频特性的测试系统及其校准方法。测试系统包括:数字波形发生模块、电压检测模块、校准模块和校准检波器,数字波形发生模块向待测单元发送第一数字波形信号以模拟射频输入,也可向校准检波器发送第二数字波形信号;电压检测模块检测待测单元输出的第一电压值,并接收校准检波器响应第二信号生成的第二电压值;校准模块基于校准检波器已知的输入功率‑电压关系,将第二信号的等效射频功率换算为目标电压值,通过实测第二电压值与目标值的差值,计算出传输路径的功率损耗补偿值,用于修正第一数字波形信号的功率输出,确保待测单元接收的射频信号不受路径损耗影响,从而实现对射频特性的准确检测。

本发明授权用于测试待测单元射频特性的测试系统及其校准方法在权利要求书中公布了:1.一种用于测试待测单元射频特性的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括: 数字波形发生模块,用于生成第一数字波形信号;其中,所述第一数字波形信号用于模拟向所述待测单元输入射频功率信号; 电压检测模块,接收并检测第一电压信号的第一电压值;其中,所述第一电压信号是所述待测单元在接收到所述第一数字波形信号后,输出的信号,用于表征所述待测单元的射频特性; 校准检波器,所述校准检波器的输入射频功率-输出电压关系已知;其中, 所述数字波形发生模块,还用于向所述校准检波器输出第二数字波形信号; 所述电压检测模块,还接收由所述校准检波器输出的第二电压信号,检测所述第二电压信号的第二电压值;其中,所述第二电压信号是所述校准检波器在接收到所述第二数字波形信号后,输出的信号; 校准模块,分别与所述数字波形发生模块和所述电压检测模块连接,被配置为: 获取所述第二数字波形信号的等效射频功率以及所述第二电压值; 基于所述输入射频功率-输出电压关系,并根据所述第二数字波形信号的等效射频功率,获得目标电压值;其中,所述目标电压值为:所述第二数字波形信号在传输路径中功率损耗为零时,所述校准检波器在接收到所述第二数字波形信号之后输出的电压值;所述传输路径为自所述数字波形发生模块的输出端至所述校准检波器的输入端之间的路径; 根据所述第二电压值与所述目标电压值的差值,确定功率补偿值,所述功率补偿值用于补偿所述第一数字波形信号。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海安其威微电子科技有限公司,其通讯地址为:201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1387号7幢101(复式)室、7幢102(复式)室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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