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龙图腾网获悉鲁东大学申请的专利一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119962332B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510450019.4，技术领域涉及：G06F30/25；该发明授权一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法是由张云凤;马晓光设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学元件技术领域，尤其涉及一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法，首先获取光学元件的物理参数（氧硅比、透射率、吸收系数）和激光辐照参数（波长、能量密度、重复频率），接着，建立多环境损伤预测模型，映射环境参数与损伤阈值关系；构建氧硅比‑透射率‑损伤阈值关联模型，分析物理参数随激光发次演化；建立热－光－力多物理场耦合模型，探究损伤机制，最终，通过这些模型预测不同发次激光辐照后光学元件的损伤阈值演化，得出损伤阈值变化趋势曲线和临界损伤点，建立了基于物理参数的损伤预测模型，实现了对光学元件损伤演化的提前预测，减少了实验周期，提高了评估效率。

本发明授权一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法，其特征在于，包括： 获取光学元件的物理参数和激光辐照参数，所述物理参数包括氧硅比、透射率和吸收系数，所述激光辐照参数包括波长、能量密度和重复频率； 建立激光辐照损伤演化预测模型，包括： 基于所述物理参数和激光辐照参数，构建多环境损伤预测模型，所述多环境损伤预测模型包括环境参数与损伤阈值的映射关系； 基于所述物理参数，构建氧硅比-透射率-损伤阈值关联模型，所述关联模型表征物理参数随激光发次的演化关系； 基于所述激光辐照参数，构建热－光－力多物理场耦合模型，所述耦合模型表征多物理场相互作用下的损伤机制； 通过所述多环境损伤预测模型、所述关联模型和所述耦合模型，预测不同发次激光辐照后光学元件的损伤阈值演化，预测结果包括损伤阈值随发次变化的趋势曲线和临界损伤点； 所述氧硅比-透射率-损伤阈值关联模型的构建具体包括： 建立亚表面氧硅比梯度预测模型，预测从表面至亚表面的氧硅比分布； 构建微观结构－宏观性能桥接系统，将微观缺陷与宏观光学性能关联； 设计损伤阈值预测进阶模型，预测公式为： ， 其中，为N次脉冲后的损伤阈值，为单脉冲损伤阈值，N为脉冲发次，S为透射率参数，fT,P）为温度压力修正函数，gO:Si）为氧硅比影响函数，h（σ）为应力影响函数； 所述温度压力修正函数表示为： ， 其中，T为实际温度，为参考温度，P为实际压力，为参考压力，α和β为材料相关常数； 所述氧硅比影响函数表示为： ， 其中，O:Si为材料的氧硅比值，γ为材料相关常数； 所述应力影响函数表示为： ， 其中，σ为光学元件内的应力，为参考应力，δ为材料相关常数。

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