北京东方天安科技有限公司李蕾蕾获国家专利权
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龙图腾网获悉北京东方天安科技有限公司申请的专利一种基于人工智能的图像处理方法及其系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120294825B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510360634.6,技术领域涉及:G01V1/28;该发明授权一种基于人工智能的图像处理方法及其系统是由李蕾蕾;杨文金;魏北南;武楚洋设计研发完成,并于2025-03-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于人工智能的图像处理方法及其系统在说明书摘要公布了:本申请公开了一种基于人工智能的图像处理方法及其系统,涉及人工智能技术领域,其中,基于人工智能的图像处理方法包括:S1:按照初始采集频率获取待处理数据;S2:对待处理数据进行预处理,获得预处理数据;S3:根据采集编码获取目标开采数据集,通过目标开采数据集对预处理数据进行分析,获得当前差异值,并对当前差异值进行分析,若当前差异值属于正常范围,则执行S1;若当前差异值属于临界范围,则对初始采集频率进行调整,获得新的采集频率,按照新的采集频率获取待处理数据,执行S2;若当前差异值属于异常范围,则发送警报信息。本申请能够对待处理数据进行校正,从而提高数据质量,以及能够对灾害隐患进行及时预警。
本发明授权一种基于人工智能的图像处理方法及其系统在权利要求书中公布了:1.一种基于人工智能的图像处理方法,其特征在于,包括如下步骤: S1:按照初始采集频率获取待处理数据,其中,待处理数据包括:采集编码、采集时间和采集数据,其中,采集数据至少包括:光学遥感数据和合成孔径雷达数据; S2:对待处理数据进行预处理,获得预处理数据,其中,预处理数据至少包括:采集编码、采集时间、第一校正数据和第二校正数据; S3:根据采集编码获取目标开采数据集,通过目标开采数据集对预处理数据进行分析,获得当前差异值,并对当前差异值进行分析,若当前差异值属于正常范围,则执行S1;若当前差异值属于临界范围,则对初始采集频率进行调整,获得新的采集频率,按照新的采集频率获取待处理数据,执行S2;若当前差异值属于异常范围,则发送警报信息; 其中,对待处理数据进行预处理,获得预处理数据的子步骤如下: S21:根据采集编码对标准数据库进行查询,将查询编码与采集编码一致的标准数据包中的开采前数据作为目标数据; S22:利用目标数据对采集数据中的光学遥感数据进行校正,获得第一校正数据; S23:对采集数据中的合成孔径雷达数据进行滤波处理,获得第二校正数据; S24:将采集编码、采集时间、第一校正数据和第二校正数据作为预处理数据; 其中,利用目标数据对采集数据中的光学遥感数据进行校正,获得第一校正数据的子步骤如下: S221:在目标数据中的原始光学遥感数据上选择多个均匀分布的地面控制点; S222:利用地面控制点对采集数据中的光学遥感数据进行成像校正处理,获得成像校正数据; S223:利用地面控制点对成像校正数据进行变形校正处理,获得变形校正数据,并将变形校正数据作为第一校正数据; 其中,利用地面控制点对采集数据中的光学遥感数据进行成像校正处理,获得成像校正数据的子步骤如下: S2221:利用基于人工智能的第一分类模型对采集数据中的光学遥感数据进行分析,确定采集数据中的光学遥感数据所属的成像类别,其中,成像类别至少包括:中心投影成像、多中心投影成像和面阵成像; S2222:根据成像类别选择相应的成像校正模型,并利用相应的成像校正模型和地面控制点对采集数据中的光学遥感数据进行校正,输出初始成像校正数据,其中,成像校正模型至少包括:多项式校正模型、物理模型和有理函数模型; S2223:对初始成像校正数据进行精度评估,获得第一精度评估结果,若第一精度评估结果为合格,则将初始成像校正数据作为成像校正数据;若第一精度评估结果为不合格,则重新对采集数据中的光学遥感数据进行成像校正处理; 其中,利用地面控制点对成像校正数据进行变形校正处理,获得变形校正数据,并将变形校正数据作为第一校正数据的子步骤如下: S2231:利用基于人工智能的第二分类模型对成像校正数据进行分析,确定成像校正数据所属的几何变形类别;其中,几何变形类别至少包括:地形性几何变形、系统性几何变形和非系统性几何变形; S2232:根据几何变形类别选择相应的变形校正模型,并利用相应的变形校正模型和地面控制点对成像校正数据进行校正,输出初始变形校正数据,其中,变形校正模型至少包括:正射校正模型、基于传感器的物理校正模型、多项式校正模型、在严格物理模型基础上加入补偿项的校正模型; S2233:对初始变形校正数据进行精度评估,获得第二精度评估结果,若第二精度评估结果为合格,则将初始变形校正数据作为变形校正数据,并将变形校正数据作为第一校正数据;若第二精度评估结果为不合格,则重新对成像校正数据进行变形校正处理。
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