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龙图腾网获悉中国民航大学申请的专利一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716883B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510246613.1，技术领域涉及：G01S17/10；该发明授权一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置及方法是由邢书剑;王芙溶;常孟斐;王翼昭设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置及方法，包含两个迈克尔逊干涉仪，光学频率梳发出的光在分束器被分为两束，经分束器反射光被参考反射镜反射，作为参考光；经分束器透射光依次被半透半反镜和测量反射镜反射，作为两个测量光。参考光和两个测量光会发生干涉，产生的多脉冲光谱干涉信号由光谱仪探测接收，利用多脉冲光谱干涉信号中的相位信息，同步确定测量光路中的群折射率和测距结果，利用实时测量的群折射率对测距结果进行补偿，保证了纳米量级的测距精度，通过微调重复频率和差分计算可以将被测距离由光谱干涉测距的非模糊范围拓展至任意长度。本发明方法简单可靠，可以实现大量程高精度绝对距离测量。

本发明授权一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种多脉冲光谱干涉的光学频率梳测距装置的测距方法，其特征在于：测距装置包括光学频率梳FC、分束器BS、参考反射镜MR、半透半反镜HM、测量反射镜MT、遮光板S1、遮光板S2、遮光板S3和光谱仪；参考反射镜MR、分束器BS、半透半反镜HM和测量反射镜MT构成了两个迈克尔逊干涉仪，参考反射镜MR、分束器BS、半透半反镜HM构成迈克尔逊干涉仪A，参考反射镜MR、分束器BS、测量反射镜MT构成迈克尔逊干涉仪B，光学频率梳FC、分束器BS、半透半反镜HM和测量反射镜MT依次设置在同一水平面，分束器BS的上方设有参考反射镜MR，分束器BS的下方设有光谱仪，遮光板S1设置在参考反射镜MR和分束器BS之间，遮光板S2设置在半透半反镜HM和分束器BS之间，遮光板S3设置在半透半反镜HM和测量反射镜MT之间； 光谱仪还连接数据处理计算机，光谱仪探测接收经参考反射镜MR反射的参考光、半透半反镜HM反射的测量光1和测量反射镜MT反射的测量光2在分束器BS合光后产生的多脉冲光谱干涉信号，光谱仪将测量到的信号发送到数据处理计算机进行处理； 测距方法，包括以下步骤： 步骤1、放置测量反射镜MT，使迈克尔逊干涉仪B两臂的距离差为被测距离L； 步骤2、对半透半反镜HM和测量反射镜MT之间的距离进行标定，得到参考间距d； 步骤3、打开遮光板S1、关闭遮光板S2，记录由参考反射镜MR反射的光的光强；关闭遮光板S1、打开遮光板S2、关闭遮光板S3，记录由半透半反镜HM反射的光的光强；关闭遮光板S1、打开遮光板S2、打开遮光板S3，记录由半透半反镜HM和测量反射镜MT共同反射的光的光强，由和的差值计算得到由测量反射镜MT反射的光的光强； 步骤4、根据步骤3得到的光强，计算伪时域内测量光1和测量光2之间的时间延迟，以及两个测量光相对于参考光的时间延迟和； 步骤5、根据步骤4得到的延迟数据，计算实际测量光路的群折射率； 根据半透半反镜HM和测量反射镜MT之间的参考间距d与非模糊范围L NAR0 之间的数值关系确定测量光2相对于测量光1实际的时间延迟： ； 式中，为测量光2相对于测量光1实际的时间延迟，m为自然数，为光谱干涉测距的非模糊范围，为光学频率梳相邻脉冲之间的光学距离，c为真空中光速，为光学频率梳的重复频率，n g0 为测量光路中的群折射率； 通过标定参考间距d确定真空中测量光2相对于测量光1的时间延迟，对比和计算出实际测量光路的群折射率： ； 步骤6、根据步骤5得到实际测量光路的群折射率计算被测距离L。

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