博世华域转向系统有限公司蒋利民获国家专利权
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龙图腾网获悉博世华域转向系统有限公司申请的专利一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223319789U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422595541.5，技术领域涉及：G01B21/22；该实用新型一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备是由蒋利民;周平;许晓舟设计研发完成，并于2024-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型涉及转向系统技术领域，具体地说是一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备。一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备，其特征在于：ATE测试机的一侧设有测试台机架，测试台机架的顶部设有RPS芯片测试机构；测试台机架的顶部设有测试平台，测试平台上设有底座，位于底座的外围设有支撑框架，支撑框架的顶部设有支撑平台，支撑平台上设有测试子板固定架；支撑框架内设有伺服电机，伺服电机的驱动轴上通过磁铁套筒轴接磁铁，位于磁铁套筒的外侧通过电机编码器外圈转子抱紧装置连接电机编码器。同现有技术相比，解决了传统静态测试角度误差方式存在的无法覆盖RPS芯片实际动态工况，测试效率低和精度难平衡等缺陷。
本实用新型一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备在权利要求书中公布了：1.一种基于ATE的RPS芯片角度误差测试设备，包括ATE测试机、RPS芯片测试机构，其特征在于：ATE测试机（1）的一侧设有测试台机架（3），测试台机架（3）的顶部设有RPS芯片测试机构（2）；所述的RPS芯片测试机构（2）包括底座、伺服电机、电机编码器、磁铁、支撑平台、支撑框架、测试子板固定架，测试台机架（3）的顶部设有测试平台，测试平台上设有底座（2-1），位于底座（2-1）的外围设有支撑框架（2-2），支撑框架（2-2）的顶部设有支撑平台（2-3），支撑平台（2-3）上设有测试子板固定架（2-4）；支撑框架（2-2）内设有伺服电机（2-6），伺服电机（2-6）的驱动轴上通过磁铁套筒（2-10）轴接磁铁（2-11），位于磁铁套筒（2-10）的外侧通过电机编码器外圈转子抱紧装置（2-12）连接电机编码器（2-9）。
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