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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119354742B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411416818.1，技术领域涉及：G01N3/24；该发明授权基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法是由马刚;曹万达;梅江洲;王頔;周伟设计研发完成，并于2024-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法在说明书摘要公布了：本发明公开基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法，试验平台上从左至右依次设有偏振光源、起偏镜、双轴加载装置、LED光源、检偏镜和所述图像采集系统，所述光学平台上还设有控制系统，所述控制系统与所述双轴加载装置电连接。本颗粒材料细观力学试验平台基于光学测量技术，通过可调节的双轴加载装置的运动，实现二维密实颗粒体系的剪切，通过旋转检偏镜，可以在偏振光场和无偏光场之间切换，以获取不同光场下的试验图像，并结合光弹性技术和数字图像相关技术进行接触力和动力学分析；本颗粒材料细观力学试验平台通过高精度、高采集频率的图像采集技术，不需接触，可以直观和同步地获取颗粒材料的接触力和动力学信息。

本发明授权基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法在权利要求书中公布了：1.基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台，包括光学平台，其特征在于，所述光学平台上设有双轴加载装置，所述双轴加载装置的一侧设有起偏镜，所述起偏镜远离所述双轴加载装置的一侧设有偏振光源，所述双轴加载装置的另一侧设有可偏转的检偏镜，所述检偏镜远离所述双轴加载装置的一侧设有图像采集系统，所述图像采集系统朝向所述双轴加载装置布置；所述检偏镜与所述双轴加载装置之间的区域还布置有若干LED光源，所述光学平台上还设有控制系统，所述控制系统与所述双轴加载装置电连接； 所述光学平台包括独立布置的第一光学平台和第二光学平台，所述偏振光源、所述起偏镜和所述双轴加载装置均设置在所述第一光学平台上，所述检偏镜和所述图像采集系统设置在所述第二光学平台上； 所述第二光学平台上设有支撑底板，所述支撑底板上设有弧形槽，所述检偏镜的下方设有检偏镜支撑板，所述检偏镜支撑板的一端转动连接于所述支撑底板之上，所述检偏镜支撑板的另一端下方设有滑轮，所述滑轮设置在所述弧形槽中并沿所述弧形槽滑动。

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