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龙图腾网获悉南京航空航天大学申请的专利一种矫正扫描透射电子显微镜图像畸变的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119338726B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411378557.9，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权一种矫正扫描透射电子显微镜图像畸变的方法是由王毅;刘博文;胡政设计研发完成，并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种矫正扫描透射电子显微镜图像畸变的方法在说明书摘要公布了：在STEM成像过程中，电子探针在样品上的扫描路径完美的扫描网格，在存在环境畸变的情况下，快速扫描间距保持近似恒定，然而，慢速扫描行之间的线性和非线性偏移可能会破坏完美的扫描网格，在生成的图像中产生线性和非线性畸变。这些扭曲会随着晶格的膨胀、压缩或剪切而变得可见。本发明的矫正STEM图像畸变的方法是一种用于原子分辨STEM的强大方法。相比传统的方法，本发明能够解决扫描畸变导致STEM中样品真实位置与电子探针位置之间的不匹配问题，矫正STEM图像存在的畸变。

本发明授权一种矫正扫描透射电子显微镜图像畸变的方法在权利要求书中公布了：1.一种矫正扫描透射电子显微镜图像畸变的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、获取未经修正的扫描透射电子显微镜图像，计算该图像每一个像点的畸变值；所述畸变值为该像点相对扫描透射电子显微镜扫描网格上对应节点的位移； 步骤2、判断该图像存在畸变的类型，所述畸变类型包括线性畸变和非线性畸变； 步骤3、针对步骤2中的非线性畸变，将该存在非线性畸变的图像划分成若干个截取面，其中每个截取面看作一个存在线性畸变的图像，计算该若干截取面中每一个像点的畸变值；根据存在非线性畸变的图像中样品的晶体结构将图像划分成多个截取面k；视每个截取面k的x方向为线性畸变，该截取面的剪切系数为tanθj；y方向具有相同畸变值dj；jk表示在k中j·d0的值，则该截取面k上位于i行j列的畸变值表示为 定义X′j、Y′j为畸变图像像点坐标，Xj、Yj为原始图像像点坐标，aj为当前截取面的剪切系数，aj＝tanθj，γj为当前截取面的膨胀压缩系数，则每一截取面上的畸变图像像点坐标与对应原始图像像点坐标的关系表示为 步骤4、根据存在线性畸变的图像的像点坐标及该像点的畸变值，计算得到该像点对应无畸变的原始图像的像点坐标，完成矫正。

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