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中冶赛迪技术研究中心有限公司龚贵波获国家专利权

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龙图腾网获悉中冶赛迪技术研究中心有限公司申请的专利一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116934735B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310985762.0,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质是由龚贵波;刘贵林;刘景亚设计研发完成,并于2023-08-07向国家知识产权局提交的专利申请。

一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取待测镀层金属板的多个待测晶花图像和检测光源‑相机光轴角度信息,基于检测光源‑相机光轴角度信息和多个待测晶花图像进行第一图像重构得到待测反射率信息图像,将待测反射率信息图像分别与多个预设二维纹理滤波器进行检测卷积得到多个目标特征纹理向量图像,将全部目标特征纹理向量图像输入晶花分类模型进行晶花尺寸分类得到目标晶花尺寸类别,基于多个预设扫描方向计算待测反射率信息图像的多个灰度共生矩阵的能量特征量,根据全部能量特征量得到特征能量均值确定晶花纹理分布均匀程度;通过目标晶花尺寸类别与晶花纹理分布均匀程度提高晶花检测精确度和智能化效率。

本发明授权一种晶花检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种晶花检测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取待测镀层金属板的多个待测晶花图像和检测光源-相机光轴角度信息,并基于检测光源-相机光轴角度信息和多个所述待测晶花图像进行第一图像重构,得到待测反射率信息图像,多个所述待测晶花图像由不同预设检测方向的光源模块先后照射待测金属板时通过相机模块采集得到; 将所述待测反射率信息图像分别与多个预设二维纹理滤波器进行检测卷积,得到多个目标特征纹理向量图像; 将全部所述目标特征纹理向量图像输入晶花分类模型进行晶花尺寸分类,得到目标晶花尺寸类别; 基于多个预设扫描方向计算所述待测反射率信息图像的多个灰度共生矩阵对应的能量特征量,并根据全部所述能量特征量得到的特征能量均值,以确定晶花纹理分布均匀程度,将所述目标晶花尺寸类别与所述晶花纹理分布均匀程度作为所述待测镀层金属板的晶花检测结果; 其中,所述晶花分类模型是通过多个初始晶花图像和各所述初始晶花图像对应的晶花尺寸分类标签训练得到的。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中冶赛迪技术研究中心有限公司,其通讯地址为:401122 重庆市渝北区北部新区汇金路11号1幢;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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