成都飞机工业(集团)有限责任公司虞永杰获国家专利权
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龙图腾网获悉成都飞机工业(集团)有限责任公司申请的专利表面处理层厚度测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116538985B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310425558.3，技术领域涉及：G01B21/08；该发明授权表面处理层厚度测量方法是由虞永杰;杨扬;王涛;周鑫明;刘冬雪;董恒玮;黄婷;范玲玲设计研发完成，并于2023-04-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本表面处理层厚度测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种表面处理层厚度测量方法，包括以下步骤：获取不同厚度表面处理层的标准样品中各个不同金属元素所对应的标准正态分布曲线，所述正态分布曲线为在某一厚度下某一元素的元素含量与概率密度之间的关系曲线；获取待测样品各个金属元素所对应的样品正态分布曲线；根据不同标准厚度下各个金属元素所对应的标准正态分布曲线与待测样品相应金属元素所对应的样品正态分布曲线，逐一获取基于待测样品不同金属元素计算得到的表面处理层厚度值，得到待测样品表面处理层厚度。本方法可实现对表面处理层厚度的快速、无损测量，不受测量区域的限制，且对待测样品基体及表面处理层的材料没有太多的限制，具有广泛的适用性。
本发明授权表面处理层厚度测量方法在权利要求书中公布了：1.表面处理层厚度测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S01、获取不同厚度表面处理层的标准样品中各个不同金属元素所对应的标准正态分布曲线，所述正态分布曲线为在某一厚度下某一元素的元素含量与概率密度之间的关系曲线； S02、获取待测样品各个金属元素所对应的样品正态分布曲线； S03、根据不同标准厚度下各个金属元素所对应的标准正态分布曲线与待测样品相应金属元素所对应的样品正态分布曲线，逐一获取基于待测样品不同金属元素计算得到的表面处理层厚度值，得到待测样品表面处理层厚度。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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