哈尔滨工程大学刘禄获国家专利权
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龙图腾网获悉哈尔滨工程大学申请的专利一种使用双路信号的荧光寿命测温方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116046203B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310012981.0，技术领域涉及：G01K11/00；该发明授权一种使用双路信号的荧光寿命测温方法是由刘禄;王欣宇;李博洋;姜海丽;田野;任晶;张建中设计研发完成，并于2023-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种使用双路信号的荧光寿命测温方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种使用双路信号的荧光寿命测温方法，利用稀土离子双掺杂纳米荧光材料制备的测温探头探测温度，纳米荧光材料中掺杂离子1激发态能量高于掺杂离子2，掺杂离子1荧光寿命随温度升高而缩短，掺杂离子2荧光寿命随温度升高而延长，将掺杂离子1和掺杂离子2荧光寿命比值随温度变化拟合曲线作为测温探头标定曲线，根据理论测温灵敏度曲线确定探头测温工作范围，利用标定曲线对应的拟合公式根据实测荧光寿命比值反推得到探测温度。本发明不依赖于探头在待测物内部的渗透深度，可用于材料表面测温，还适用于材料内部复杂环境温度监测，可以灵活设计稀土离子掺杂系统，选取采集信号对应的荧光波段，无需添加硬件，成本低廉，操作便捷。
本发明授权一种使用双路信号的荧光寿命测温方法在权利要求书中公布了：1.一种使用双路信号的荧光寿命测温方法，其特征在于： 利用稀土离子双掺杂的纳米荧光材料制备的测温探头探测温度，所述纳米荧光材料中掺杂离子1激发态能量高于掺杂离子2，掺杂离子1荧光寿命随温度升高而缩短，掺杂离子2荧光寿命随温度升高而延长，将掺杂离子1和掺杂离子2荧光寿命比值随温度变化拟合曲线作为测温探头标定曲线，根据理论测温灵敏度曲线确定探头测温工作范围，利用标定曲线对应的拟合公式根据实测荧光寿命比值反推得到探测温度。
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