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龙图腾网获悉贵州民族大学申请的专利一种光学元件表面缺陷检测方法及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116519695B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211555967.7，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种光学元件表面缺陷检测方法及相关设备是由李林福;张传博;杨继启;欧建开;曾正设计研发完成，并于2022-12-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学元件表面缺陷检测方法及相关设备在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种光学元件表面缺陷检测方法及相关设备，能够有效的去除光学元件表面的纹理特征，将光学元件表面的缺陷进行分离，准确的获知光学元件存在的缺陷，具有方向识别性好，分离准确，完整的提取缺陷特征的优点，在精密光学检测和表面计量中具有重要应用价值。本申请包括：采用NSST对精密光学元件的表面数据进行分解，以分解得到若干个尺度不同方向不同的标准子块；使用L0梯度最小化消除除最高尺度子块外所有标准子块的纹理数值，以获取若干个只含有不同尺度和方向缺陷的目标子块，所述最高尺度子块为表示光学元件表面加工时的刀痕纹理信息；对所述若干个目标子块使用NSST逆变换，得到所述精密光学元件表面缺陷的数据。

本发明授权一种光学元件表面缺陷检测方法及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种光学元件表面缺陷检测方法，其特征在于，包括： 确定精密光学元件的检测区域； 设定所述检测区域中相邻两个数据点之间的预设距离； 获取所述检测区域中所述数据点的个数； 根据所述预设距离和所述检测区域中所述数据点的个数获取所述检测区域中存在的刀痕、坑包和划痕的表面数据； 采用NSST对精密光学元件的表面数据进行分解，以分解得到若干个尺度不同方向不同的标准子块； 将若干个标准子块进行归一化处理，分别计算不同标准子块的标准差，以获取得到最高尺度子块，所述最高尺度子块表示光学元件表面加工时的刀痕纹理信息； 确定L0梯度最小化的函数为： 其中，IP表示输入P处的表面数据，SP表示输出P处表面数据的运算结果，表示表面数据P处的梯度，λ为控制平滑权重的参数，λ＝nσn＝1、2、3......，σ为标准差； 将所述最高尺度子块置变为0矩阵； 对所述若干个标准子块使用NSST逆变换，得到所述精密光学元件表面缺陷的数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人贵州民族大学，其通讯地址为：550025 贵州省贵阳市花溪区董家堰；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。