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龙图腾网获悉中国兵器装备集团西南技术工程研究所申请的专利一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115901935B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211379300.6，技术领域涉及：G01N27/90；该发明授权一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统是由王成章;杨小奎;窦世涛;舒畅;朱玉琴;王晓辉;封先河;胡广洋;赵方超;黄波;李佳蒙设计研发完成，并于2022-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统，利用涡流激励和磁场探测系统获取涂层下金属基体的磁场强度分布图像，根据所得磁场强度分布图像特征确定涂层下金属基体的损伤程度，评估涂层下金属基体损伤程度并进行分级，并给出评估结果；涡流激励磁场系统包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器固定连接激励线圈并位于激励线圈内；采用本发明的方案，不仅能够定量地给出涂层下金属基体的损伤程度，而且能够给出涂层下金属基体各深度区间的损伤评级，提高了涂层下金属基体损伤评估的准确性，具有无损、高效、便捷的优势。

本发明授权一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于磁场探测技术的涂层下金属基体损伤评估方法，其特征在于，步骤包括： 步骤1，利用涡流激励磁场系统获取涂层下金属基体不同层深处的磁场强度分布图像，根据所得磁场强度分布图像特征确定涂层下金属基体的损伤程度； 步骤2，利用涡流激励磁场系统获取涂层下金属基体的横向损伤图像，根据所得横向损伤图像上的轮廓特征确定损伤区域坐标和横向损伤形态； 步骤3，结合所得损伤深度区间和横向损伤形态确定损伤类型及对应的数量，损伤类型包括裂纹、深腐蚀坑、浅腐蚀坑； 步骤4，根据式（Ⅰ）评估涂层下金属基体损伤程度，根据所得数值S进行分级，并给出评估结果，分为损伤一般S2、较严重2≤S4、严重4≤S6、非常严重S≥6四个等级； S=0.5m+0.35n+0.15p（Ⅰ） 式中，m表示裂纹数量，n表示深腐蚀坑数量，p表示浅腐蚀坑数量； 所述的涡流激励磁场系统包括多频涡流激励信号发生器、激励线圈、磁场数据采集器、线性阵列磁场检测传感器和数据处理模块与显示器，线性阵列磁场检测传感器固定连接激励线圈并位于激励线圈内；其中，多频涡流激励信号发生器用于产生多频激励信号并在被测部位形成磁场，且同步产生一个频率标记信号，并将该标记信号同步传输给磁场数据采集器；线性阵列磁场检测传感器用于检测不同激励频率下的磁场数据，并对应记录和提取不同激励频率下的磁场数据，并将该磁场数据传输给磁场数据采集器；磁场数据采集器用于获取磁场数据、频率标记信号，将磁场数据与频率标记信号进行匹配、存储，并反馈给数据处理模块；数据处理模块用于将读取的磁场数据生成磁场数据图并输出；所述的多频激励信号包括在第一毫秒级时段T1内发出的第一档频率、在第二毫秒级时段T2内发出的第二档频率…在第K毫秒级时段TK内发出的第K档频率，所有毫秒级时段的总时长控制在一秒内；第一档频率对应的检测厚度区间为0-h1mm，第二档频率对应的检测厚度区间为0-h2mm，第K档频率对应的检测厚度区间为0-hKmm，0mm所在位置表示检测基准面，h1mm所在位置表示检测基准面往下深度为hKmm的位置，h1＜h2＜hK。

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