北京智谱华章科技有限公司刘丁枭获国家专利权
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龙图腾网获悉北京智谱华章科技有限公司申请的专利一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115525465B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211234727.7,技术领域涉及:G06F11/07;该发明授权一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统是由刘丁枭;马晋辰;肖东宝;柳孟阳;胡浩江;吴浩;张鹏;王绍兰;王笑尘设计研发完成,并于2022-10-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统,属于失效分析技术领域,解决了现有失效分析不全面和准确率低的问题。包括分析历史维修记录得到故障点中的异常点,基于检测步骤关联的零件及其所属线路,删除异常点相关的检测步骤,补入属于同一线路的其它零件关联的检测步骤,得到实际检测步骤;根据待检测组装件的诊断数据进行失效分析,如果是初次失效分析,获取实际检测步骤,否则根据上一次失效分析的故障点,更新实际检测步骤;根据实际检测值得到故障点,若故障点正确,结束失效分析,否则迭代直至达到最大失效分析次数,得到最终故障点;若最终故障点不正确,根据已训练好的分类模型预测出故障点。实现了失效分析准确率的提升。
本发明授权一种基于多次失效分析的故障点预测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于多次失效分析的故障点预测方法,其特征在于,包括如下步骤: 分析历史维修记录,得到故障点中的异常点,基于各检测流程的所有检测步骤关联的零件及其所属线路,删除异常点相关的检测步骤,补入属于同一线路的其它零件关联的检测步骤,得到各检测流程的实际检测步骤; 根据待检测组装件的诊断数据进行失效分析,如果是初次失效分析,获取对应的检测流程的实际检测步骤,否则,根据上一次失效分析的故障点,更新对应的检测流程的实际检测步骤;根据获取的实际检测值得到故障点,若故障点正确,结束失效分析,否则,迭代进行下一次失效分析,直至达到最大失效分析次数,得到最终故障点; 若最终故障点不正确,根据多次失效分析构建待预测数据,输入至对应的已训练好的分类模型,预测出故障点。
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