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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利CMOS探测器调试系统及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115480143B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211113813.2，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权CMOS探测器调试系统及检测方法是由余达;李国宁;梅贵;李强;齐彪;王爽;安威设计研发完成，并于2022-09-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本CMOS探测器调试系统及检测方法在说明书摘要公布了：CMOS探测器的调试系统及检测方法，涉及CMOS探测器筛选测试领域，解决现有CMOS探测器上电过程中，易出现烧毁芯片、SPI写操作错误以及图像模糊等问题，包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路；本发明对探测器的供电电源进行了限流设置，设置了最大输出电流，同时根据CMOS探测器上电过程中可能出现的各种异常现象对探测器的状态进行诊断，并进行相应处理，避免由于错误状态而把所有的供电全加上而出现异常大电流。

本发明授权CMOS探测器调试系统及检测方法在权利要求书中公布了：1.CMOS探测器的检测方法，其特征是：该检测方法通过CMOS探测器调试系统实现，包括控制器和探测器，还包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路； 所述控制器给探测器提供探测器的系统工作时钟，输出的信号经电平转换电路后形成SPI及控制信号；控制器同时通过对VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路，电荷转移栅低压供电及电流检测电路，像素和基准源供电及电流检测电路，源级跟随器供电及电流检测电路，电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路进行控制，按照探测器的上电时序要求产生各部分供电和控制信号的上电时序； 所述探测器输出串行图像数据，送控制器进行串行图像数据的训练后转换为并行图像数据； 该方法的具体步骤如下： 步骤一、上电后，依次检测VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO电流值；控制器向探测器发送系统复位信号SYS_RST_N并回读SPI寄存器的值；对探测器的SPI寄存器读写操作数据值的判断以及检测探测器输出串行图像数据中的伴随时钟，实现探测器各管脚间的连接间的连通，无异常后，执行步骤二； 步骤二、控制器向探测器输出驱动控制信号，经电平转换电路后送入探测器； 步骤三、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路开始供电输出，然后检测电荷转移栅低压供电、像素和基准源供电的估算电流Ievaluate_1；若在上电阶段LDO输出端的电容均充电完毕后，检测到的电流小于等于2倍估算电流Ievaluate_1，则执行步骤四，否则检查电流偏大的供电电路并进行异常处理； 步骤四、源级跟随器供电、电荷转移栅高压供电开始供电输出，然后检测电荷转移栅高压供电、源级跟随器供电电路的估算电流Ievaluate_2；若在上电稳定LDO输出端的电容均充电完毕后，检测到的电流小于等于2倍估算电流Ievaluate_2，则执行步骤五，否则检查电流偏大的供电电路并进行相应处理； 步骤五、控制器接收探测器输出的串行图像数据，进行串行图像数据的训练；当检测到的稳定tap数小于工作频率所决定的tap数的一半，或者出现训练后的图像模糊，则检查探测器的串行图像数据管脚是否存在接触不良；处理完毕或者无异常现象则执行步骤六； 基于串行图像数据的频率、IODELAY的参考时钟频率及IODELAY的最大tap数估算检测到的稳定区域所对应的最大tap数； 步骤六、输出探测器的感光图像；通过改变入射光能量，看输出是否跟随变化，若不跟随变化感光性差，则检查驱动控制信号的相关管脚。

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