中国科学技术大学秦家军获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114708894B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210301952.1,技术领域涉及:G11C11/412;该发明授权抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器是由秦家军;常泽光;赵雷;安琪设计研发完成,并于2022-03-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器在说明书摘要公布了:本发明公开了一种抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器,电路包括:其中,七个NMOS管和四个PMOS管,第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管和第一NMOS管,第二NMOS管,第三NMOS管组成施密特触发器;第四PMOS管和第四NMOS管组成一个反相器;施密特触发器输出端连到反向器输入端,反向器输出端连到施密特触发器输入端;构成施密特触发器的第三PMOS管MP3管的漏极和第三NMOS管管的源极连到反向器输出端。这种存储单元电路使得作为第一存储节点Q的第二PMOS管的漏极与第二存储节点Qb的第四PMOS管的漏极为互锁的节点,提升了对抗单粒子翻转的性能,且电路结构相对简单,功耗较低,也便于制造。
本发明授权抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器在权利要求书中公布了:1.一种抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路,其特征在于,包括: 七个NMOS管和四个PMOS管;其中, 第一NMOS管MN1的栅极、第一PMOS管MP1的栅极、第七NMOS管MN7的源极和第五NMOS管MN5的源极电性连接; 第二NMOS管MN2的栅极、第二PMOS管MP2的栅极、第四NMOS管MN4的漏极、第四PMOS管MP4的漏极、第三NMOS管MN3的源极、第三PMOS管MP3的源极和第七NMOS管MN7的漏极电性连接; 第一NMOS管MN1的漏极、第二NMOS管MN2的源极和第三NMOS管MN3的漏极电性连接; 第一PMOS管MP1的漏极、第二PMOS管MP2的源极和第三PMOS管MP3的漏极电性连接; 第二NMOS管MN2的漏极、第二PMOS管MP2的漏极、第三NMOS管MN3的栅极、第三PMOS管MP3的栅极、第四NMOS管MN4的栅极、第四PMOS管MP4的栅极和第六NMOS管MN6的源极电性连接; 所述第五NMOS管MN5的栅极与第六NMOS管MN6的栅极均与字线WL电性连接; 所述第七NMOS管MN7的栅极与写控制线CL电性连接; 所述第五NMOS管MN5的漏极与第一位线BLB电性连接; 所述第六NMOS管MN6的漏极与第二位线BL电性连接; 所述第一NMOS管MN1的源极、第四NMOS管MN4的源极和所有NMOS管的体端均接地GND; 所述第一PMOS管MP1的源极、第四PMOS管MP4的源极和所有PMOS管的体端均连接电源VDD。
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