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龙图腾网获悉歌尔光学科技有限公司申请的专利光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114565552B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111615387.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备是由崔世君;王建成;胥洁浩;金玲;赵俊瑞;韩雪设计研发完成，并于2021-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本申请涉及一种光学元件表面缺陷的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及光学检测技术领域。光学元件的待检测表面刻蚀有菲涅尔纹，该方法包括：获取待检测表面的灰度图像；获取灰度图像中分布菲涅尔纹的目标区域的极坐标图像；去除极坐标图像中与菲涅尔纹对应的菲涅尔纹图案；根据极坐标图像中剩余各图案的图案区域确定极坐标缺陷区域；在灰度图像中标注与极坐标缺陷区域对应的缺陷区域。

本发明授权光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种光学元件表面缺陷的检测方法，其特征在于，所述光学元件的待检测表面刻蚀有用于实现光学功能的图纹，所述图纹为菲涅尔纹，所述方法包括： 获取所述待检测表面的灰度图像； 获取所述灰度图像中分布所述图纹的图纹区域的极坐标图像； 去除所述极坐标图像中与所述图纹对应的图纹图案； 根据所述极坐标图像中剩余各图案的图案区域确定极坐标缺陷区域； 在所述灰度图像中标注与所述极坐标缺陷区域对应的缺陷区域； 所述获取灰度图像中分布图纹的图纹区域的极坐标图像，包括：通过预设算法确定所述灰度图像中的至少一个连通区域，根据所述至少一个连通区域中每个连通区域的位置、形状参数获取所述灰度图像中分布所述图纹的图纹区域，对所述图纹区域内的图像进行极坐标变换，得到所述图纹区域的极坐标图像； 所述去除所述极坐标图像中与所述图纹对应的图纹图案，包括：采用预先设置的n*n的掩膜遍历极坐标图像，提取多个目标像素点，其中，所述多个目标像素点的灰度值大于或等于所述掩膜掩盖第一像素点时所述掩膜所掩盖的所有像素点的灰度值均值； 确定出所述极坐标图像中与所述图纹对应的图纹图案，对所述图纹图案进行膨胀处理后，将所述极坐标图像中像素点和提取出所述图纹图案膨胀处理后图像中的像素点做差，得到去除所述极坐标图像中与所述图纹对应的所述图纹图案的图像。

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