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龙图腾网获悉中国科学院深圳先进技术研究院申请的专利基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116263970B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111538547.3，技术领域涉及：G06T11/00；该发明授权基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法是由刘元元;朱燕杰;崔卓须;朱庆永;曹晨涛;王海峰;梁栋设计研发完成，并于2021-12-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法、装置、设备及其存储介质，该方法包括：基于块匹配法提取具有结构相似性的图像块，并根据图像块构造低秩化结构张量；利用信号物理弛豫先验，对加权图像构造低秩化参数张量；通过低秩化结构张量和低秩化参数张量建立基于低秩张量的图像重建模型和求解方法。本申请提供的上述方案，极大地加快数据扫描速度，减少定量成像时间，在图像重建时，本发明提出的重建方法在较高加速倍数下仍能够精确地从高度欠采的数据中重建出参数加权图像。

本发明授权基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于图像结构以及物理弛豫先验的磁共振定量成像方法，其特征在于，该方法包括： 基于块匹配法提取具有结构相似性的图像块，并根据图像块构造低秩化结构张量； 利用信号物理弛豫先验，对加权图像构造低秩化参数张量； 通过低秩化结构张量和低秩化参数张量建立基于低秩张量的图像重建模型和求解方法； 所述利用信号物理弛豫先验，对加权图像构造低秩化参数张量，包括： 根据T1ρ定量成像的原理，基于公式 M＝M0e-TSLkT1ρk＝1,2...,NTSL对加权图像中的每一像素点进行逐点的拟合；其中，TSL表示自旋锁定时间，M表示经过TSL时间后的信号，M0为一常量，表示不施加T1ρ准备脉冲时的基准信号； 根据预估的组织T1ρ定量值对图像中的像素点进行聚类分析，使得每一聚类群组中的像素点属于同一类组织； 对聚类后的像素点，沿TSL方向将不同T1ρ加权图像中相同位置的像素构成一个低秩的Hankel矩阵； 将Hankel矩阵以堆叠方式形成具有低秩特性的三阶参数张量； 所述通过低秩化结构张量和低秩化参数张量建立基于低秩张量的图像重建模型和求解方法，包括： 根据低秩化结构张量和低秩化参数张量建立基于低秩张量的图像重建模型 其中，其中E为多通道编码操作算子，其等于线圈敏感度矩阵与欠采傅里叶变换算子的乘积，X为待重建的图像，Y为采集到的K空间数据，||·||表示Frobenius范数，||·||*表示核范数，λ1,i和λ2,j分别为正则化参数，和分别为结构张量和参数张量； 通过低秩张量分解和交替方向乘子法对图像重建模型的优化问题进行迭代求解。

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