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龙图腾网获悉浙江杭可仪器有限公司申请的专利一种测试DDR器件的方法及计算机存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114446373B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011196143.6，技术领域涉及：G11C29/18；该发明授权一种测试DDR器件的方法及计算机存储介质是由曹佶;张海设计研发完成，并于2020-11-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测试DDR器件的方法及计算机存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测试DDR器件的方法，包括：步骤A：准备测试电路，判断DDR器件的状态；步骤B：使所述DDR器件进入测试状态；步骤C：通过所述DDR器件的数据存储区的起始地址和地址长度向所述DDR器件写入原始数据；步骤D：准备通过所述起始地址和所述地址长度读取所述DDR器件内的数据；步骤E：读取所述DDR器件内的缓存数据，并把所述缓存数据排成队列，而知晓已经读取的数据量；步骤F：通过所述队列读取所述DDR器件的所述数据存储区内的地址范围；步骤G：读取所述地址范围内存储的测试数据，并对读取的测试数据进行分析，而判断所述DDR器件的品质。其还公开了一种计算机存储介质。其测试快速方便。

本发明授权一种测试DDR器件的方法及计算机存储介质在权利要求书中公布了：1.一种测试DDR器件的方法，其特征在于，包括： 步骤A：准备测试电路，判断DDR器件的状态； 步骤B：使所述DDR器件进入测试状态； 步骤C：通过所述DDR器件的数据存储区的起始地址和地址长度向所述DDR器件写入原始数据； 步骤D：准备通过所述起始地址和所述地址长度读取所述DDR器件内的数据； 步骤E：读取所述DDR器件内的缓存数据，并把所述缓存数据排成队列，而知晓已经读取的数据量； 步骤F：通过所述队列读取所述DDR器件的所述数据存储区内的地址范围； 步骤G：读取所述地址范围内存储的测试数据，并对读取的测试数据进行分析，而判断所述DDR器件的品质， 在所述步骤A中，所述测试电路包括CPU、FPGA器件和DDR器件，所述DDR器件通过所述FPGA器件与所述CPU信号连接， 所述步骤A包括： 步骤A1：通过所述CPU向与所述DDR器件映射的测试寄存器写入数据； 步骤A2：通过所述FPGA器件读取所述测试寄存器内写入的数据； 步骤A3：判断步骤A2中读取的数据是否有误，如有误返回步骤A1,如没有错误则执行步骤A4； 步骤A4：通过所述FPGA器件读与所述DDR器件映射的状态寄存器； 步骤A5：通过所述状态寄存器的信息判断所述DDR器件的初始状态，如果初始状态不正确，则返回步骤A4；如果初始状态正确，则执行步骤B。

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