比亚迪半导体股份有限公司周博获国家专利权
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龙图腾网获悉比亚迪半导体股份有限公司申请的专利电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114429027B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011183031.7，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备是由周博;李奇峰设计研发完成，并于2020-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备在说明书摘要公布了：本公开涉及一种电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备，涉及电子技术领域，能够在连续的状态中定位误差形成的状况，有利于误差改善分析率。一种电流积分误差分析方法，包括：以第一采样速率对电流曲线进行采样，得到电流采样点，第一采样速率大于电流曲线的电流变化速率；将电流采样点划分为若干组，每组包括N个连续的电流采样点，基于每组N个连续的电流采样点中两两连续的电流采样点的电流差值，确定该组N个连续的电流采样点所对应的电流曲线的曲线类型；计算每组N个连续的电流采样点中的第一电流采样点和第N电流采样点相连所形成的直线的斜率；基于所确定的曲线类型和所计算的斜率，对电流积分误差进行分析。
本发明授权电流积分误差分析方法、装置、存储介质和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种电流积分误差分析方法，其特征在于，包括： 以第一采样速率对电流曲线进行采样，得到电流采样点，其中，所述第一采样速率大于所述电流曲线的电流变化速率； 将所述电流采样点划分为若干组，每组包括N个连续的电流采样点，基于每组N个连续的电流采样点中两两连续的电流采样点的电流差值，确定该组N个连续的电流采样点所对应的电流曲线的曲线类型； 计算每组N个连续的电流采样点中的第一电流采样点和第N电流采样点相连所形成的直线的斜率； 基于所确定的曲线类型和所计算的斜率，对电流积分误差进行分析，得到电流积分误差分析结果，所述电流积分误差分析结果用于描述导致电流积分误差形成的电流采样点组。
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