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龙图腾网获悉博测锐创半导体科技(苏州)有限公司申请的专利一种功率半导体测试源表用放大器及其处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120512108B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511011864.8，技术领域涉及：H03F1/32；该发明授权一种功率半导体测试源表用放大器及其处理方法是由任志军;陈彦锐;李冲;纪文明;韦春蕾设计研发完成，并于2025-07-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种功率半导体测试源表用放大器及其处理方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种功率半导体测试源表用放大器及其处理方法，属于功率半导体测试技术领域。通过预先建立的信号采集模块获取原始信号数据并进行分类处理，采用滤波算法对信号进行去噪，检测异常波动并进行校正，根据抗干扰需求调整信号增益，执行动态响应速度检测并优化；同步采集多维度特征数据，应用数据验证算法确保输出可靠性。本发明通过多个环节的信号处理和优化，有效解决了功率半导体测试中信号受复杂环境影响的问题，提高了信号的稳定性、可靠性和响应速度，最终生成适用于复杂环境的高质量测试信号，为功率半导体的性能评估提供了可靠的数据支持。

本发明授权一种功率半导体测试源表用放大器及其处理方法在权利要求书中公布了：1.一种功率半导体测试源表用放大器的处理方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 从功率半导体测试环境中获取原始信号数据，执行信号分类处理，得到分类后的初始信号集合； 对所述分类后的初始信号集合进行滤波处理，生成滤波后的信号数据集； 对所述滤波后的信号数据集进行异常波动检测，判断所述滤波后的信号数据集是否满足预设的稳定性阈值，对不满足所述稳定性阈值的信号进行校正处理，得到校正后的信号组； 对所述校正后的信号组进行增益调整，生成放大信号集合； 对所述放大信号集合进行响应速度检测，判断所述放大信号集合的时延是否满足预设的时延范围，对不满足所述时延范围的信号进行优化处理，得到优化后的信号组； 对所述优化后的信号组进行多维度特征采集，生成综合特征信号矩阵； 通过数据验证算法对所述综合特征信号矩阵进行可靠性检测，判断是否满足预设的准确标准，对不满足所述准确标准的信号执行校准处理，得到验证信号数据集； 根据验证信号数据集，生成信号处理需求报告，映射到功率半导体测试的具体应用场景； 所述对所述滤波后的信号数据集进行异常波动检测，包括： 针对所述滤波后的信号数据集中的每个信号，计算每个信号的稳定性指标； 将所述稳定性指标与预设的稳定性阈值进行比较，确定信号是否包含异常波动； 对包含异常波动的信号，识别异常波动模式并获取对应的权重系数； 根据所述权重系数和异常波动模式对包含异常波动的信号进行校正，得到所述校正后的信号组； 所述对包含异常波动的信号进行校正，包括： 提取信号的异常波动模式； 根据所述异常波动模式和对应的权重系数，获取校正强度参数； 通过所述校正强度参数和所述异常波动模式，生成校正后的信号； 所述对所述放大信号集合进行响应速度检测，包括： 针对所述放大信号集合中的每个信号，计算每个信号的响应时延； 将信号的响应时延与预设的时延范围进行比较； 提取所述响应时延超出所述时延范围的信号，计算信号的二阶导数； 根据所述二阶导数和参考信号，生成优化后的信号； 所述对所述优化后的信号组进行多维度特征采集，包括： 针对所述优化后的信号组中的每个信号，提取该信号的多维度特征数据； 根据所述多维度特征数据，生成所述综合特征信号矩阵。

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