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龙图腾网获悉华南农业大学申请的专利基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法及其相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119574441B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411747486.5，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法及其相关设备是由曾志雄;吴灶铭;谭深文;谢润涛;董钊杰;樊杰坤;肖锋华设计研发完成，并于2024-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法及其相关设备在说明书摘要公布了：本申请提供一种基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法及其相关设备，当需要检测目标导轨的缺陷情况时，本申请实施例提供的方法可以通过分析不同光照序列下目标导轨待检测区域的图像数据来确定目标导轨的缺陷情况，通过光照设备，有效实现在检测目标导轨过程中实时调节光照设备的光照参数来采集不同的图像数据，可以更加全面分析目标导轨的缺陷情况，有效降低对目标导轨的缺陷情况检测成本，相比于现有的技术方案，本申请实施例提供的方法可以提高对目标导轨的检测结果的准确度，性能更优。

本发明授权基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法及其相关设备在权利要求书中公布了：1.一种基于光照条件的导轨表面缺陷检测方法，其特征在于，包括： 确定目标导轨的待检测区域； 改变针对所述目标导轨的待检测区域的光照序列，并采集不同光照序列下所述目标导轨的待检测区域的第一图像数据集，其中，所述第一图像数据集包括至少一个所述目标导轨的待检测区域在每一组光照序列对应下的第一图像数据，其中，所述光照序列包括光照单元的位置、光照的强度以及光照的色温； 对所述第一图像数据集进行预处理，得到第二图像数据集； 将所述第二图像数据集输入预设的缺陷检测模型进行检测，得到所述目标导轨的检测结果，其中，所述目标导轨的检测结果包括所述目标导轨中存在缺陷的位置，所述预设的缺陷检测模型以训练导轨的待检测区域对应的图像数据集作为训练样本，以所述训练导轨的待检测区域对应的图像数据集对应的检测结果作为样本标签，训练得到； 多尺度分析所述目标导轨的待检测区域的检测结果中包括的所述目标导轨呈现缺陷的概率，以将所述目标导轨呈现缺陷的概率的数据在不同尺度下进行平滑处理，生成多尺度目标信号； 对每个尺度下的目标信号进行局部峰值检测，标记每一个尺度下的目标信号中所有局部极大值所对应所述目标导轨的位置； 统计不同尺度下所述目标导轨的同一位置的局部峰值出现频率，生成所述目标导轨的缺陷峰值频率分布结果； 根据所述目标导轨的缺陷峰值频率分布结果，确定每个尺度下符合预设的条件的峰值作为所述目标导轨呈现缺陷概率的所有峰值； 依据所述目标导轨呈现缺陷的概率中的所有峰值，设置用于对所述目标导轨的缺陷进行再次检测的光照序列。

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