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浙江大学陈恒林获国家专利权

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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119104791B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411415623.5,技术领域涉及:G01R27/26;该发明授权一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法是由陈恒林;常俊浩;朱自立设计研发完成,并于2024-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法,包括:采用对称的端口进行测量,利用改进的计算方法来提取寄生电容参数,通过多组外接电感进行实验验证方法准确性。相比于现有的提取方法,本发明IGBT模块寄生电容提取方法选用阻抗接近的对称端口进行测量,误差远小于现有提取方法,可以极大地消除了结电容非线性特性的影响,并且提取结果不受外部电感值的影响,可用于准确提取IGBT模块,尤其是高功率IGBT模块的寄生电容值,具有较好的精度。

本发明授权一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法在权利要求书中公布了:1.一种基于外部电感谐振的IGBT模块寄生电容提取方法,所述IGBT模块由两个IGBT管T1和T2连接组成,T1的集电极为IGBT模块的端子P,T1的发射极与T2的集电极相连作为IGBT模块的端子O,T2的发射极为IGBT模块的端子N,其特征在于,所述IGBT模块寄生电容提取方法包括如下步骤: 1测量IGBT模块覆铜层与背板铜层之间的寄生电容总值CT; 2在端子P与端子O两端并联谐振电感以实现并联谐振的条件,从端子P与背板铜层两端测量端口阻抗ZPB,从端子O与背板铜层两端测量端口阻抗ZOBPB; 3根据谐振频率下的端口阻抗ZPB和ZOBPB,结合测量值计算连接端子P的覆铜层在背板铜层形成的寄生共模电容CP; 4重新连接谐振电感,将谐振电感并联在端子N与端子O的两端,从端子N与背板铜层两端测量端口阻抗ZNB,从端子O与背板铜层两端测量端口阻抗ZOBNB; 5根据谐振频率下的端口阻抗ZNB和ZOBNB,结合测量值计算连接端子N的覆铜层在背板铜层形成的寄生共模电容CN; 6根据寄生电容总值CT以及上述计算得到的寄生共模电容CP和CN,计算出连接端子O的覆铜层在背板铜层形成的寄生共模电容CO。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人浙江大学,其通讯地址为:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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