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龙图腾网获悉绵阳科技城新区特种材料产业技术研究院申请的专利一种杀菌纳米薄膜检测方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119334898B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411383161.3，技术领域涉及：G01N21/3563；该发明授权一种杀菌纳米薄膜检测方法、装置及设备是由晏敏皓;朱运遥;任翼;宫旭东;曹建合设计研发完成，并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种杀菌纳米薄膜检测方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种杀菌纳米薄膜检测方法、装置及设备，属于光学测量领域，检测方法包括，对二氧化钒纳米薄膜进行检测预处理，获得待检测样品；将待检测样品在常温状态和相变温度状态下进行扫描获得光谱数据，并构建光谱数据库；从光谱数据库中提取出二氧化钒纳米薄膜的透射率和反射率，并计算得到折射率和消光系数，将计算得到的数据存入光学常数数据库中；对光谱数据库和光学常数数据库中的数据进行拟合得到二氧化钒纳米薄膜表面缺陷结果。本发明利用二氧化钒的相变特性通过两次扫描实现了对二氧化钒纳米薄膜表面缺陷的精确识别。

本发明授权一种杀菌纳米薄膜检测方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种杀菌纳米薄膜检测方法，其特征在于，所述方法包括， S100、对二氧化钒纳米薄膜进行检测预处理，获得待检测样品； S200、将待检测样品在常温状态和相变温度状态下进行扫描获得光谱数据，并构建光谱数据库； S300、从光谱数据库中提取出二氧化钒纳米薄膜的透射率数据和反射率数据，并计算得到折射率和消光系数，将计算得到的数据存入光学常数数据库中； S400、对光谱数据库和光学常数数据库中的数据进行拟合得到二氧化钒纳米薄膜表面缺陷结果； 所述构建光谱数据库包括， 使用傅里叶变换红外光谱仪扫描在常温状态下待检测样品，通过傅里叶变换红外光谱仪从近红外、中红外和远红外三个波长范围对检测样品进行扫描获得第一光谱数据，将第一光谱数据经过降噪处理后构建常温光谱子数据库； 将同一待检测样品加热到68℃，通过傅里叶变换红外光谱仪从近红外、中红外和远红外三个波长范围对加热到68℃的检测样品进行扫描获得第二光谱数据，将第二光谱数据经过降噪处理后构建相变光谱子数据库； 对所述常温光谱子数据库和所述相变光谱子数据库中的数据进行标准化处理； 然后对光谱数据库中的数据进行独立成分分析，得到常温光谱的独立成分和相变光谱的独立成分，对比常温光谱和相变光谱的独立成分，并将对比结果存入对比子数据库； 常温光谱子数据库、相变光谱子数据库和对比子数据库共同构成光谱数据库； 并通过用Z-score标准化分别对常温光谱子数据库和相变光谱子数据库中的数据进行标准化处理； 独立成分分析包括，分别对常温光谱子数据库和所述相变光谱子数据库进行如下操作，将近红外、中红外和远红外三组光谱数据组合成一个数据矩阵，其中每一行代表一个样本，每一列代表一个波长点；计算协方差矩阵，并进行特征分解；使用FastICA算法找到独立成分； 对比常温光谱和相变光谱的独立成分包括，使用快速傅里叶变换算法对常温光谱和相变光谱的每个独立成分进行傅里叶变换，将时域信号转换到频域；绘制常温和相变状态下的频谱图，通过对比常温频谱和相变频谱的频率域幅度和相位信息，查看频率成分的变化；将频谱中的异常变化，识别为指示材料特性变化或缺陷的频率成分； 所述计算二氧化钒纳米薄膜的透射率数据和反射率数据包括，从光谱数据库中获取在不同波长下的透射率T和反射率R，并根据透射率T和反射率R计算得到折射率n和消光系数k； ， ， 其中，R为反射率，T为透射率，n为折射率，k为消光系数，α为光吸收系数，λ为光的波长，d为薄膜的厚度，薄膜的厚度为50～70nm。

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