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武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司刘璐宁获国家专利权

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龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利NED设备检测装置及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118936839B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410990939.0,技术领域涉及:G01M11/00;该发明授权NED设备检测装置及方法是由刘璐宁;左律;邓忠光;欧昌东设计研发完成,并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。

NED设备检测装置及方法在说明书摘要公布了:本申请属于设备检测领域,具体公开了一种NED设备检测装置及方法,装置包括:包括:至少一个第一工位和至少一个第二工位;第一工位,用于承载第一测试设备和待检测的NED设备,以便按照预设测试对位要求调整待检测NED设备在第一工位相对第一测试设备的姿态,获取满足该预设测试对位要求时NED设备的姿态参数;第二工位,用于承载第二测试设备和在第一工位调整姿态后的NED设备,以便按照姿态参数调整所述NED设备在第二工位的姿态,使得第二测试设备在第二工位获取姿态调整后的NED设备显示的画面,实现对NED设备的检测。通过本申请,能够提高NED设备的测试效率,减少测试时间。

本发明授权NED设备检测装置及方法在权利要求书中公布了:1.一种近眼显示NED设备的检测装置,其特征在于,包括:至少一个第一工位和至少一个第二工位; 所述第一工位,用于承载第一测试设备和待检测的NED设备,以便按照预设测试对位要求在第一工位调整待检测NED设备相对第一测试设备的姿态,获取满足该预设测试对位要求时NED设备的姿态参数; 所述第二工位,用于承载第二测试设备和在第一工位调整姿态后的NED设备,以便按照所述姿态参数调整所述NED设备在第二工位的姿态,使得第二测试设备在第二工位获取姿态调整后的NED设备显示的画面,实现对NED设备的检测;所述第二测试设备在第二工位的位置与第一测试设备在第一工位的位置一致,所述位置指测试设备与同一工位上的NED设备的相对位置; 其中,所述第二测试设备在第二工位的位置与第一测试设备在第一工位的位置一致,包括: 所述第一测试设备和第二测试设备均包括光学镜头,且所述光学镜头前端均设置有光阑; 所述第二测试设备的光阑在第二工位的所述位置与第一测试设备的光阑在第一工位的所述位置一致; 所述第一工位与第二工位的基准面一致。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,其通讯地址为:430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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