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龙图腾网获悉北京东方计量测试研究所;哈尔滨工业大学申请的专利基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118829059B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410877286.5，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法是由贾军伟;朱悉铭;朱莫凡;郎昊;武宇婧;常猛;康永琦;张文杰设计研发完成，并于2024-07-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法在说明书摘要公布了：本发明为等离子体探针校准领域，提供基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法。测量探针阵列的表面温度，使用探针阵列测量稳定运行的霍尔推进器的羽流参数，得到此时探针阵列收集到的伏安特性曲线。再使用红外成像仪测量探针阵列的表面温度，得到探针受轰击加热的温度差。结合探针表面的二次电子发射系数，便计算出二次电流值。结合探针本身测量得到的离子电流值，对电子电流值进行修正，得到真实的伏安特性曲线，计算出准确的电子温度密度。使用光谱仪通过光谱测量此时的电子温度电子密度，与修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比，实现对等离子体探针阵列进行校准。用以解决探针测量结果缺乏校准，准确度难以评定的问题。

本发明授权基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法在权利要求书中公布了：1.一种基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法，其特征在于，所述等离子体探针阵列校准方法的等离子体探针阵列（7）包括球型探针（1）、平面探针（4）、圆柱探针Ⅰ（2）和圆柱探针Ⅱ（5）；所述等离子体探针阵列（7）设置在十字形支架（3）上，所述球型探针（1）、平面探针（4）设置在十字形支架（3）的相对两端，所述圆柱探针Ⅰ（2）和圆柱探针Ⅱ（5）设置在十字形支架（3）的相对两端，所述球型探针（1）、平面探针（4）、圆柱探针Ⅰ（2）和圆柱探针Ⅱ（5）间隔设置； 所述等离子体探针阵列校准方法包括以下步骤： 步骤1：将所述等离子体探针阵（7）列放置在真空罐（55）中，并将真空罐（55）抽真空； 步骤2：基于步骤1抽真空的真空罐（55）测量等离子体探针阵列（7）的探针表面温度； 步骤3：使用等离子体探针阵列（7）测量稳定运行的霍尔推进器（33）的羽流参数，等离子体探针阵列（7）的探针收集到此时的伏安特性曲线； 步骤4：测量步骤3等离子体探针阵列（7）收集霍尔推进器羽流参数之后的表面温度； 步骤5：将步骤2等离子体探针阵列（7）的表面温度和步骤4的等离子体探针阵列（7）的探针表面温度做差，得到等离子体探针阵列（7）的探针受霍尔推进器羽流轰击加热之后的温度差； 步骤6：将步骤5的受霍尔推进器羽流轰击加热之后的温度差，结合等离子体探针阵列（7）的探针表面的二次电子发射系数计算出二次电流值； 步骤7：将步骤6的二次电流值，结合探针本身测量得到的离子电流值，便能对电子电流值进行修正，得到真实的伏安特性曲线，从而计算出准确的电子温度密度； 步骤8：使用光谱仪（4）测量电子温度电子密度，与步骤7修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比，从而实现对等离子体探针阵列进行校准。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京东方计量测试研究所;哈尔滨工业大学，其通讯地址为：100086 北京市海淀区知春路82号1001室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。