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龙图腾网获悉苏州未来电器股份有限公司申请的专利一种三相电过欠压的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115015650B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210749716.6，技术领域涉及：G01R29/16；该发明授权一种三相电过欠压的检测方法是由楼铭达;毛海锋;华艳设计研发完成，并于2022-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种三相电过欠压的检测方法在说明书摘要公布了：本发明一种三相电过欠压的检测方法，所述三相电接入同一采样电路进行统一采样，采样得到的信号传输至MCU进行处理，所述检测方法的步骤为，首先在单个周期内对电压采样n次，并根据采样数据找出第一相电压的最大值，之后根据第一相电压的最大值计算得到第二相、第三相电压的最大值，之后计算各相的实际电压值，最后将各相的实际电压值与过压阈值、欠压阈值进行对比后判断是否过欠压。整体检测简单方便，减少计算量，可在具有小体积电器空间内实现过欠压的检测，同时减少了电器元件的使用，节省开支。

本发明授权一种三相电过欠压的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种三相电过欠压的检测方法，其特征在于，所述三相电接入同一采样电路进行统一采样，采样得到的信号传输至MCU进行处理，所述检测方法的步骤为， S1、每隔t时间，对电压值采样一次，单个周期的采样次数为n次，其中，，f为三相电的频率，n取整数； S2、对n次采样得到的电压值进行对比，得到n次采样中的最大值Vamax，并记录该最大值的采样位置maxaid，得到所述三相电中第一相的最大值Vamax与采样位置maxaid； S3、取第一相最大值的采样位置maxaid，计算第二相的采样位置bid=maxaid+n3，则第二相最大值的采样位置maxbid=maxaid+n3，该采样位置对应电压值为第二相的最大值Vbmax； S4、取第一相最大值的采样位置maxaid，计算第三相的采样位置cid=maxaid+2n3，则第三相最大值的采样位置maxcid=maxaid+2n3，该采样位置对应电压值为第三相的最大值Vcmax； S5、根据Vamax、Vbmax以及Vcmax计算实际电压Va、Vb以及Vc； S6、将实际电压Va、Vb以及Vc与内置于MCU的过压阈值、欠压阈值进行对比，若任一实际电压高于过压阈值则判定为电压过压，若任一实际电压低于欠压阈值则判定为电压欠压。

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