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惠州华阳通用电子有限公司何庆获国家专利权

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龙图腾网获悉惠州华阳通用电子有限公司申请的专利一种诊断DID自动测试方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115168179B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210552575.9,技术领域涉及:G06F11/3668;该发明授权一种诊断DID自动测试方法、系统及存储介质是由何庆;黄楚岸设计研发完成,并于2022-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

一种诊断DID自动测试方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了:本发明涉及汽车测试技术领域,提供一种诊断DID自动测试方法、系统及存储介质,采用CAPL编写基于CDDT模板文件新建的CDD文件,得到诊断通用框架编写诊断框架脚本,在接收到诊断请求后设定对应的待调试ECU,遍历诊断框架脚本中每一所述DID配置信息,写入到待调试ECU中进行DID诊断测试,实现了DID测试脚本的自动读取、测试,可提高测试效率;基于通用的测试框架,还可移植到其他项目继续使用,通用性高。

本发明授权一种诊断DID自动测试方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种诊断DID自动测试方法,其特征在于,包括步骤: S1、根据目标测试项目,采用CAPL编写诊断框架脚本; S2、发出诊断请求,并设定待调试ECU; S3、调用所述诊断框架脚本,并从中获取对应的所有DID配置信息; S4、遍历每一所述DID配置信息,控制所述待调试ECU执行DID诊断测试; 在所述步骤S1中,所述诊断框架脚本至少包括诊断数据、诊断流程和诊断算法; 其中,所述诊断数据的编写包括: A、生成CDD配置文件; B、读取CDD配置文件,并从所述CDD配置文件中获取原始诊断数据; C、从所述原始诊断数据中提取诊断数据,将所述诊断数据转换为字节数组,并确定其字节长度; D、根据所述字节长度设置诊断请求大小、寻址方式。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人惠州华阳通用电子有限公司,其通讯地址为:516000 广东省惠州市东江高新科技产业园上霞北路1号华阳工业园A区2号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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