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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种单像素探测边缘检测方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115035140B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210429222.X，技术领域涉及：G06T7/13；该发明授权一种单像素探测边缘检测方法及设备是由王英俭;时东锋;陈亚峰;黄见;苑克娥;杨威;令狐彬;乔春红设计研发完成，并于2022-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种单像素探测边缘检测方法及设备在说明书摘要公布了：本发明属于计算成像和边缘检测领域，特别涉及一种单像素探测边缘检测方法及设备。所述边缘检测方法包括以下步骤：步骤S1：生成二维调制信息矩阵A，并将二维调制信息矩阵A平移一个单位得到二维调制信息矩阵B；步骤S2：分别使用二维调制信息矩阵A和二维调制信息矩阵B对照明光进行调制；步骤S3：分别探测两组调制后的照明光穿透目标物体或经目标物体反射后的光信号总强度值，得到两组光信号总强度值；步骤S4：根据两组所述光信号总强度值使用重建算法计算目标物体的边缘信息。本发明相比于传统利用图像来检测物体边缘，这种方法不需要重建物体的图像而直接得到物体的变换。

本发明授权一种单像素探测边缘检测方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种单像素探测边缘检测方法，其特征在于， 所述边缘检测方法包括以下步骤： 步骤S1：生成二维调制信息矩阵A，并将二维调制信息矩阵A平移一个单位得到二维调制信息矩阵B； 步骤S2：分别使用二维调制信息矩阵A和二维调制信息矩阵B对照明光进行调制； 步骤S3：分别探测两组调制后的照明光穿透目标物体或经目标物体反射后的光信号总强度值，得到两组光信号总强度值； 步骤S4：根据两组所述光信号总强度值使用重建算法计算目标物体的边缘信息； 所述二维调制信息矩阵A中每个矩阵的表达式如下： p0x,y,L,θ＝hRLδxcosθ+ysinθ-L 所述二维调制信息矩阵B中每个矩阵的表达式如下： ptx,y；L,θ＝p0x,y；L+1,θ 其中，p0x,y；L,θ为二维矩阵中对应着坐标x，y处的元素值，hRL等于哈达玛矩阵中第R行[L]列的值，[L]为不大于L的最大整数值，δ为狄拉克函数，θ为与x轴的夹角； 所述步骤S4具体包括以下步骤： 步骤S41：根据两组光信号总强度值计算梯度信息； 步骤S42：根据所述梯度信息计算出横坐标正方向的夹角从0到179度中所有梯度的拉东谱线，并按角度顺序排列后得到梯度的拉东谱； 步骤S43：根据所述拉东谱采用滤波反投影算法计算目标物体的边缘信息。

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