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龙图腾网获悉天津津航技术物理研究所申请的专利面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115994511B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111207433.0，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法是由赵安娜;刘舒扬;王天鹤;张晨;张云昊;周志远;潘建旋;姜洪妍;王才喜设计研发完成，并于2021-10-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法，基于特定应用目标的高光谱成像数据，以对分类识别准确度的影响作为权重将高光谱成像数据M个谱段由高到低排序；选择分类器进行分类识别，获得前N个谱段的分类识别准确率，分类识别准确度大于设定值的最小谱段数N即为光谱成像芯片特征谱段数，N个谱段即为谱段中心波长；建立光谱成像芯片多光谱成像模型，以光谱分辨率fn为变量，对多光谱成像模型输出的光谱信息采用分类器进行验证，获得fn对应的分类识别准确度，拟合fn与分类识别准确度的关系曲线，获得满足要求的光谱成像芯片分辨率。该方法可对多光谱成像芯片的关键参数进行模拟计算，指导光谱成像芯片的设计、研制。

本发明授权面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法在权利要求书中公布了：1.一种面向特定应用的光谱成像芯片的关键参数前置模拟方法，其特征在于，包括如下步骤： 获取特定应用目标的高光谱成像数据； 高光谱成像数据包括M个谱段，以各谱段对分类识别准确度的影响作为权重，采用特征选择及特征提取方法，将M个谱段按权重由高到低排序； 根据特定应用目标的属性选择分类器； 分类器按照M个谱段排序依次增加一个谱段进行分类识别，获得前N个谱段的分类识别准确率XN，N＝1，…，M，当XN≥X时，X为分类识别准确度设定值，最小谱段数N即为光谱成像芯片特征谱段数，N个谱段即为光谱成像芯片对应的谱段中心波长； 建立光谱成像芯片多光谱成像模型，所述光谱成像芯片多光谱成像模型为HS,fn,N，λ1......λN,R，其中S表示目标的真实光谱数据，fn为光谱成像芯片的光谱分辨率，N为特征谱段数，λN为第N个特征谱段中心波长，R为传感器响应函数； 以光谱分辨率fn为变量，输入多光谱成像模型，将多光谱成像模型输出的光谱信息采用分类器进行验证，获得fn对应的分类识别准确度Xn；通过插值拟合获得fn与Xn的关系曲线，曲线中与分类识别准确度预设值X对应的fn即为光谱成像芯片的分辨率。

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