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龙图腾网获悉长沙学院申请的专利表面等离子共振成像装置、方法、控制系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115508275B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110630755.X，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权表面等离子共振成像装置、方法、控制系统及存储介质是由汪之又;袁彬峰;朱培栋;黄彩霞设计研发完成，并于2021-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本表面等离子共振成像装置、方法、控制系统及存储介质在说明书摘要公布了：本申请适用于表面等离子共振技术领域，提供一种表面等离子共振成像装置、方法、控制系统及存储介质，其中，表面等离子共振成像装置包括光源系统、检测系统、进样系统、成像系统和控制系统，光源系统包括远心光源、第一电机和角度调制部件，检测系统包括耦合器和微阵列芯片，进样系统包括进样池，成像系统包括第一阵列探测器；第一电机与角度调制部件机械连接，控制系统分别与第一电机和第一阵列探测器电连接；控制系统用于控制第一电机驱动角度调制部件运动，以调节远心光源产生的入射光的远心角度，使位于微阵列芯片的所有样点处的入射光的强度相等，无需进行标准样品校准或标准光强校准等测量步骤，可以满足快速检测需求。

本发明授权表面等离子共振成像装置、方法、控制系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种表面等离子共振成像装置，其特征在于，包括光源系统、检测系统、进样系统、成像系统和控制系统，所述光源系统包括远心光源、第一电机和角度调制部件，所述检测系统包括耦合器和微阵列芯片，所述进样系统包括进样池，所述成像系统包括第一阵列探测器； 所述第一电机与所述角度调制部件机械连接，所述控制系统分别与所述第一电机和所述第一阵列探测器电连接； 所述控制系统用于控制所述第一电机驱动所述角度调制部件运动，以调节所述远心光源产生的入射光的远心角度，使位于所述微阵列芯片的所有样点处的入射光的强度相等； 所述成像系统还包括分束镜和第二阵列探测器； 所述控制系统还与所述第二阵列探测器电连接； 所述所有样点反射的反射光经由所述分束镜分束为第一反射光和第二反射光后，分别出射至所述第一阵列探测器和所述第二阵列探测器； 所述控制系统具体用于： 控制所述第一电机驱动所述角度调制部件运动，以调节所述远心光源产生的入射光的远心角度； 通过所述第二阵列探测器获取所述所有样点的第一图像； 获取所述第一图像中所有像素点的强度的均方差和平均强度的比值； 当所述比值不等于预设阈值时，返回控制所述第一电机驱动所述角度调制部件运动，直到所述比值等于预设阈值时为止，所述比值等于预设阈值时位于所述微阵列芯片的所有样点处的入射光的强度相等。

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