上海翊威半导体有限公司李怀东获国家专利权
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龙图腾网获悉上海翊威半导体有限公司申请的专利一种基于图像识别的定位方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN112433225B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201910944436.9,技术领域涉及:G01S17/86;该发明授权一种基于图像识别的定位方法是由李怀东设计研发完成,并于2019-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于图像识别的定位方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于图像识别的定位方法,通过图像识别装置识别比照点对应的信号,并根据图像识别装置中的光敏元件与通过基准图像信息建立的基准坐标系之间的映射关系,对比已知的待定位点的坐标信息,不断校正比照点的坐标信息,实现定位的目的。
本发明授权一种基于图像识别的定位方法在权利要求书中公布了:1.一种基于图像识别的定位方法,该方法包括以下步骤: 在基准平面内设定至少三个定位基准点,并利用图像识别装置获取基准平面的基准图像信息;其中所述至少三个定位基准点在待测平面内构成封闭的二维图形,所述基准图像信息包含了所述三个定位基准点的位置信息和所述二维图形的尺寸信息; 在所述图像识别装置中利用所述基准图像信息建立基准坐标系,所述基准坐标系与所述图像识别装置中的光敏元件阵列之间具有映射关系; 在所述基准平面内,标记第一比照点; 利用所述图像识别装置获取所述第一比照点在所述光敏元件阵列中的位置信息,将所述第一比照点在所述光敏元件阵列中的位置信息映射到所述基准坐标系中; 根据已知的待定位点的坐标信息,不断校正第一比照点的坐标信息,直到所述第一比照点的坐标信息与待定位点的坐标信息一致。
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