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龙图腾网获悉跃迁科技(天津)有限公司申请的专利基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120522214B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511032685.2，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法和系统是由赵晓仿;郭冰;龚武设计研发完成，并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法和系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法和系统，向预设待测点施加X射线光束，利用微光束聚焦技术调节所述X射线光束的聚焦位置，生成实时对准所述预设待测点的点测位置的微区光斑；采集所述微区光斑激发产生的X荧光信号；利用预设的自适应数字滤波器对所述X荧光信号进行动态噪声抑制处理，生成降噪后的X荧光信号；将所述降噪后的X荧光信号输入至预设的光谱峰值自动识别算法中，以得到特征峰值数据；将所述特征峰值数据与预设的贵金属元素类型数据库进行匹配，生成元素点测结果。本发明解决了微区点测中位移漂移、信号失真及元素误判的复合问题，显著提升了贵金属分析的精准度与效率。

本发明授权基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种基于微区x荧光光谱的贵金属分析仪精准点测方法，其特征在于，包括： 向预设待测点施加X射线光束，利用微光束聚焦技术调节所述X射线光束的聚焦位置，生成实时对准所述预设待测点的点测位置的微区光斑； 采集所述微区光斑激发产生的X荧光信号； 获取所述预设待测点的位移速度以及所述X荧光信号的时域特征参数，将所述位移速度和所述时域特征参数进行关联，生成动态噪声模型参数；利用所述动态噪声模型参数对预设的自适应数字滤波器的频率响应特性进行调整，生成自适应滤波规则；应用所述自适应滤波规则对所述X荧光信号进行滤波处理，生成中间处理信号；对所述中间处理信号的特征分布状态进行分析，生成特征分布参数；根据所述特征分布参数对所述中间处理信号的有效特征分量进行类别划分，生成特征类别集合；应用所述特征类别集合与所述预设待测点的位移速度计算动态权重系数，以生成权重分配规则；根据所述权重分配规则将所述有效特征分量进行重组，生成重构特征信号；将所述重构特征信号和原始信号序列中的背景分量进行融合，以生成降噪后的X荧光信号； 将所述降噪后的X荧光信号输入至预设的光谱峰值自动识别算法中，以得到特征峰值数据； 将所述特征峰值数据与预设的贵金属元素类型数据库进行匹配，生成元素点测结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人跃迁科技(天津)有限公司，其通讯地址为：300392 天津市滨海新区滨海高新区华苑产业区桂苑路七号A座327室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。