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龙图腾网获悉深圳市华测半导体设备有限公司申请的专利基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120468630B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510968810.4，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统是由朱培;余秀青设计研发完成，并于2025-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统，旨在提高复杂模拟IC测试中异常通道的定位效率与准确性。该方法首先获取模拟IC在测试过程中多通道模数转换器（ADC）的数据吞吐能力信息，结合该信息制定并行异步测试方案。随后，采集各ADC通道在测试过程中的传输数据，构建通道响应特征矩阵，并计算各通道的时序漂移参数。利用谱聚类算法对时序漂移参数进行聚类，识别出异常漂移通道聚类簇。最终，根据聚类结果精准定位出测试中存在异常的通道。该方法具有高并行性和自适应能力，适用于大规模模拟IC的快速测试与异常分析，在提高测试效率和降低测试成本方面具有显著优势。

本发明授权基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于并行异步测试的模拟IC测试异常定位方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取模拟IC测试过程中多通道模数转换器的数据吞吐能力信息，根据所述数据吞吐能力信息确定模拟IC的并行异步测试方案，具体为： 获取预设数量标准模拟IC输入目标测试平台进行预测试操作，获取预测试过程中多通道模数转换器的测试输出数据，所述测试输出数据包括数据处理延迟信息、缓存积压率、模拟IC电流与电压输出信号变化数据； 对所述输出信号变化数据进行平滑度分析，确定输出信号的信号采样完整性和信号跳变程度； 根据所述信号采样完整性和信号采样跳变程度确定每个ADC通道的数据接口异常采样频次，根据所述异常采样频次对每个ADC通道进行数据采样质量评估，得到数据采样质量数据； 将所述数据采样质量数据与所述数据处理延迟信息、缓存积压率进行相关性分析，确定多通道模数转换器的数据吞吐能力信息； 获取单个模拟IC测试的数据处理量信息，根据所述数据处理量信息和数据吞吐能力信息确定并行异步测试的模拟IC数量，构建并行异步测试方案； 获取模拟IC在并行异步测试过程中的每一ADC通道的传输数据，根据所述传输数据构建通道响应特征矩阵，根据所述通道响应特征矩阵计算每个通道的时序漂移参数； 基于谱聚类算法对所述时序漂移参数进行聚类操作，提取异常漂移通道聚类簇； 根据所述异常漂移通道聚类簇对模拟IC并行异步测试过程中的测试异常通道进行定位。

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