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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法及其应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119493953B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411474967.3，技术领域涉及：G06F17/18；该发明授权绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法及其应用是由李化;兰靖;张国豪;林福昌设计研发完成，并于2024-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法及其应用在说明书摘要公布了：本发明公开了绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法及其应用，属于绝缘技术领域，包括：获取多个不同尺寸的大尺寸电介质各自的混合分布模型，基于混合分布模型计算各大尺寸电介质的整体击穿强度，并计算得到电介质的击穿强度随尺寸变化的尺寸效应曲线；混合分布模型的获取方式包括：选取相同多个相同尺寸的小尺寸电介质，分别确定击穿强度后，通过频数分析得到击穿峰个数和各击穿峰对应的击穿强度范围；根据击穿强度范围确定各击穿峰对应的击穿强度概率分布形式，拟合得到小尺寸电介质的混合分布模型FsmallE；构建方程[1‑FsmallE]k＝1‑FlargeE并求解，得到大尺寸电介质的混合分布模型FlargeE。本发明能够提高大尺寸电介质击穿强度的计算精度。

本发明授权绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法及其应用在权利要求书中公布了：1.一种绝缘电介质击穿的尺寸效应预测方法，其特征在于，包括： 步骤S1：选取多个不同尺寸的大尺寸电介质，并分别获取各大尺寸电介质的混合分布模型；所述混合分布模型用于描述电介质的击穿强度的概率分布，其获取方式包括： 步骤S11：选取多个相同尺寸的小尺寸电介质，分别进行击穿实验以确定各小尺寸电介质的击穿强度，得到击穿强度集合后进行频数分析，得到击穿峰个数及各击穿峰对应的击穿强度范围； 步骤S12：确定用于描述各击穿强度范围内击穿强度概率分布的分布形式，并拟合得到用于描述小尺寸电介质整体击穿强度概率分布的混合分布模型FsmallE； 步骤S13：构建方程[1-FsmallE]k＝1-FlargeE并求解，得到当前大尺寸电介质的混合分布模型FlargeE；k为当前大尺寸电介质与小尺寸电介质的尺寸之比； 步骤S2：根据各大尺寸电介质的混合分布模型确定各大尺寸电介质的整体击穿强度，并计算得到电介质的击穿强度随尺寸变化的尺寸效应曲线； 其中，大尺寸电介质的面积大于预设阈值，且小尺寸电介质的面积不大于所述预设阈值。

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