合肥综合性国家科学中心人工智能研究院(安徽省人工智能实验室)张若冰获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥综合性国家科学中心人工智能研究院(安徽省人工智能实验室)申请的专利电镜图像质量评估方法、装置、电子设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119477798B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411425444.X，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权电镜图像质量评估方法、装置、电子设备以及存储介质是由张若冰;施特;吴萍设计研发完成，并于2024-10-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本电镜图像质量评估方法、装置、电子设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电镜图像质量评估方法，可以应用于生物图像处理技术领域。该方法包括：对目标电镜图像进行区域区分处理，得到目标电镜图像的前景区域和后景区域，并分别生成目标电镜图像的前景区域的掩膜和后景区域的掩膜；利用前景区域的掩膜计算前景区域的平均像素值，并利用后景区域的掩膜计算后景区域的平均像素值；利用前景区域的平均像素值计算前景区域的标准差，并利用后景区域的平均像素值计算后景区域的标准差；利用前景区域的平均像素值和标准差以及后景区域的平均像素值和标准差，计算用于评估目标电镜图像质量的含噪衬度。本发明还提供了一种电镜图像质量评估装置、设备以及存储介质。
本发明授权电镜图像质量评估方法、装置、电子设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电镜图像质量评估方法，其特征在于，包括： 对目标电镜图像进行区域区分处理，得到所述目标电镜图像的前景区域和后景区域，并分别生成所述前景区域的掩膜和所述后景区域的掩膜； 利用所述前景区域的掩膜计算所述前景区域的平均像素值，并利用所述后景区域的掩膜计算所述后景区域的平均像素值； 利用所述前景区域的平均像素值计算所述前景区域的标准差，并利用所述后景区域的平均像素值计算所述后景区域的标准差； 利用所述前景区域的平均像素值和标准差以及所述后景区域的平均像素值和标准差，计算用于评估所述目标电镜图像质量的含噪衬度， 其中，所述含噪衬度的计算方式如下列公式所示： 其中，CWN表示所述含噪衬度，表示所述前景区域的平均像素值，表示所述后景区域的平均像素值，表示所述前景区域的标准差，表示所述后景区域的标准差。
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