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龙图腾网获悉中国航发北京航空材料研究院申请的专利一种单晶叶片壁厚的测量方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119334280B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411386265.X，技术领域涉及：G01B17/02；该发明授权一种单晶叶片壁厚的测量方法、系统、设备及存储介质是由许路路;徐娜;杨万新;刘颖韬;王东升;朱迪设计研发完成，并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种单晶叶片壁厚的测量方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种单晶叶片壁厚的测量方法、系统、设备及存储介质，涉及超声波测量领域，包括：将待测单晶叶片待测区域的回波参数映射至极坐标下，获得待测区域的声学特性图像，并从中提取待测区域的回波幅值衰减率的曲线，将回波幅值衰减率的曲线中与预设回波幅值衰减率对应的入射角代入预设声速求解公式，求得超声波待测区域的超声波传播声速，预设声速求解公式中的计算参数是基于各对比样件拟合确定的，各对比样件的切割角度的覆盖待测单晶叶片各待测区域的表面角度，根据传播声速与传播时间的乘积确定待测区域的壁厚。本申请基于各对比样件实现对预设声速求解公式的参数标定，提高了测量出的传播声速的精度，提高了对单晶叶片壁厚的测量精度。

本发明授权一种单晶叶片壁厚的测量方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种单晶叶片壁厚的测量方法，其特征在于，包括： 对待测单晶叶片的待测区域进行超声波极扫描，获得所述待测区域的回波参数，所述回波参数包括各入射角下的回波幅值参数，所述回波幅值参数包括各方位角及其各自对应的回波幅值； 将所述回波参数映射至极坐标下，获得所述待测区域的声学特性图像，并基于所述声学特性图像提取所述待测区域的回波幅值衰减率的曲线，所述回波幅值衰减率为一个所述入射角在不同所述方位角下所述回波幅值的最大值与最小值的差值； 将所述回波幅值衰减率的曲线中与预设回波幅值衰减率对应的入射角确定为等效入射角，并将所述等效入射角代入预设声速求解公式，求得超声波在所述待测区域中的传播声速，其中，所述预设声速求解公式中的计算参数是基于各对比样件拟合确定的，所述对比样件与所述待测单晶叶片的材料相同，各所述对比样件的切割角度的集合覆盖所述待测单晶叶片各待测区域的表面角度，所述预设回波幅值衰减率是基于各所述对比样件的回波幅值衰减率的曲线确定的参数； 根据所述传播声速与超声波在所述待测区域的传播时间的乘积，确定所述待测区域的壁厚。

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