华中科技大学李化获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119247057B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411340789.5,技术领域涉及:G01R31/12;该发明授权一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法是由李化;兰靖;张国豪;林福昌设计研发完成,并于2024-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法,属于电介质分析技术领域,所述方法包括:利用设定的当前实验样本数、各个击穿原因对应的Weibull子分布的可靠性度量值和可靠性估计值表征每个子分布的当前关键量以选取目标子分布;考虑目标子分布的当前关键量与参考值的关系,若当前关键量大于参考值则增加当前实验样本数直至对应的当前关键量低于参考值,并将当前实验样本数作为最小样本数。本发明提出的最小样本数确定方法计及多种击穿原因的变化规律设计出与当前实验样本数相关的当前关键量,结合当前关键量与参考值之间的关系动态动态调整当前实验样本数,最终快速、准确地确定出最小样本数。
本发明授权一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法在权利要求书中公布了:1.一种获取电介质击穿强度所需最小样本数的确定方法,其特征在于,包括: S1:对电介质进行多次击穿试验,得到实验击穿场强数据; S2:构造所述实验击穿场强数据对应的各个击穿原因的Weibull子分布的击穿累积概率分布,将所有Weibull子分布的击穿累积概率分布进行叠加得到Weibull混合分布; S3:利用所述Weibull混合分布将所述实验击穿场强数据划分成各Weibull子分布的击穿场强数据,以计算各Weibull子分布的击穿场强数据对应的可靠性度量值R和可靠性估计值 所述S3包括:利用所述Weibull混合分布将所述实验击穿场强数据划分成各Weibull子分布的击穿场强数据;将各Weibull子分布的击穿场强数据对应的标准差σ和均值μ的比值作为各Weibull子分布对应的变异系数cov;利用各Weibull子分布对应的变异系数cov和击穿累积概率分布的百分位计算可靠性度量值R;根据各Weibull子分布的击穿场强数据对应的估计参数计算对应的可靠性估计值 S4:利用设定的当前实验样本数n、各个Weibull子分布对应的可靠性度量值R和可靠性估计值表征每个Weibull子分布的当前关键量UR, S5:计算各个所述Weibull子分布对应的当前关键量UR在预设置信水平下置信区间对应的相对偏差;从所有所述Weibull子分布中选出相对偏差低于偏差阈值的作为目标子分布; S6:若所述目标子分布对应的当前关键量UR的相对偏差大于参考值,则增大n并返回S4;若所述目标子分布对应的当前关键量UR的相对偏差低于所述参考值,则进入S7; S7:将所述当前实验样本数作为获取电介质击穿强度所需的最小样本数。
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