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龙图腾网获悉科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司申请的专利一种LED产品表面缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119417746B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411222563.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种LED产品表面缺陷检测方法是由周国华;陈彬;杜轶锋;程大龙;曾文君;尹力设计研发完成，并于2024-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种LED产品表面缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种LED产品表面缺陷检测方法，包括：采用多尺度形态学算法对预处理后的LED表面图像进行缺陷特征提取，通过设置不同大小和形状的结构元素，分别对表面凹陷和细微划痕进行形态学开运算和闭运算，得到凹陷和划痕的候选区域；根据凹陷和划痕的几何尺寸、形态特征和空间分布细节属性，构建缺陷特征向量，通过支持向量机算法对缺陷候选区域进行分类和严重程度评估，获得缺陷的类型、位置和定量描述参数；根据LED产品的质量检测结果，更新光源参数数据库和缺陷特征数据库，通过数据挖掘算法分析缺陷与光源参数之间的关联规律，优化光源参数配置策略和缺陷检测模型。

本发明授权一种LED产品表面缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种LED产品表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：根据LED产品类型数据库中预设的参数范围获取当前LED产品的尺寸特征和表面特性信息，通过多层感知器神经网络模型对LED产品进行初步分类，得到LED产品的类别标识符和对应的光源参数初始配置；采用图像处理算法对获取的LED表面图像进行预处理，包括去噪和增强对比度操作，通过边缘检测算法提取LED表面轮廓特征，结合深度学习中的卷积神经网络模型对LED表面特性进行精细化分析，得到表面纹理和光泽度特征参数；根据LED产品类别标识符和表面特征参数，从光源参数数据库中检索匹配的光源亮度、角度和布局配置方案，通过遗传算法对光源参数进行优化调整，得到适应当前LED产品特性的最优光源配置参数；采用多尺度形态学算法对预处理后的LED表面图像进行缺陷特征提取，通过设置不同大小和形状的结构元素，分别对表面凹陷和细微划痕进行形态学开运算和闭运算，得到凹陷和划痕的候选区域；根据凹陷和划痕的几何尺寸、形态特征和空间分布细节属性，构建缺陷特征向量，通过支持向量机算法对缺陷候选区域进行分类和严重程度评估，获得缺陷的类型、位置和定量描述参数；将最优光源配置参数与缺陷分析结果进行关联，评估缺陷对LED产品光学性能的影响，若缺陷严重程度超过预设阈值，则触发预警机制，根据缺陷类型和分布特点，动态调整光源参数或启动缺陷补偿算法；根据LED产品的质量检测结果，更新光源参数数据库和缺陷特征数据库，通过数据挖掘算法分析缺陷与光源参数之间的关联规律，优化光源参数配置策略和缺陷检测模型。

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