聚时科技(上海)有限公司刘长江获国家专利权
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龙图腾网获悉聚时科技(上海)有限公司申请的专利一种电路芯片缺陷检测系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223346755U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422041333.0，技术领域涉及：G01N21/88；该实用新型一种电路芯片缺陷检测系统是由刘长江;郑军设计研发完成，并于2024-08-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电路芯片缺陷检测系统在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种电路芯片缺陷检测系统，涉及机械自动化领域，包括上料输送机构，下料输送机构、反面光学检测模组、料盘转运机构、正面光学检测模组和编带机构模组，上料输送机构用于转入物料；下料输送机构用于转出物料；反面光学检测模组用于检测上料输送机构内的物料的反面是否有缺陷；料盘转运机构用于将上料输送机构内被光学检测模组检测后的物料转运至下料输送机构中；正面光学检测模组用于检测下料输送机构中的物料的正面是否有缺陷。本实用新型其能够实现检测过程全自动，减少人为干预造成物料不良，提高物料的良品率。
本实用新型一种电路芯片缺陷检测系统在权利要求书中公布了：1.一种电路芯片缺陷检测系统，其特征在于，包括： 上料输送机构，所述上料输送机构用于转入物料； 下料输送机构，所述下料输送机构用于转出所述物料； 反面光学检测模组，所述反面光学检测模组用于检测所述上料输送机构内的所述物料的反面是否有缺陷； 料盘转运机构，所述料盘转运机构用于将所述上料输送机构内被所述光学检测模组检测后的所述物料转运至所述下料输送机构中； 正面光学检测模组，所述正面光学检测模组用于检测所述下料输送机构中的所述物料的正面是否有缺陷。
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