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深圳市诚芯微科技股份有限公司何刚获国家专利权

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龙图腾网获悉深圳市诚芯微科技股份有限公司申请的专利一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118534290B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410618619.2,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质是由何刚;曹建林设计研发完成,并于2024-05-17向国家知识产权局提交的专利申请。

一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了:一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质,涉及芯片测试领域。在该方法中,获取电源芯片在第一时刻的第一温度和第一实际负载,通过第一预设模型根据第一温度和第一实际负载预测电源芯片在第二时刻的第一负载;将电源芯片在第二时刻的第二实际负载调整为第一负载,通过第二预设模型根据第一负载预测电源芯片的第一输出电压和第一输出电流;获取电源芯片在第二时刻的第一实际输出电压和第一实际输出电流,判断第一差值和第二差值是否均在预设范围内;当第一差值和第二差值均不在预设范围内时,提示电源芯片存在异常的概率为预设第一数值。实施本申请提供的技术方案,达到了提高测试效率的效果。

本发明授权一种用于测试电源芯片的方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种用于测试电源芯片的方法,其特征在于,应用于芯片测试平台,所述方法包括: 获取电源芯片在第一时刻的第一温度和第一实际负载,通过第一预设模型根据所述第一温度和所述第一实际负载预测所述电源芯片在第二时刻的第一负载,所述第二时刻为所述第一时刻的下一时刻,所述第一实际负载为所述第一时刻的实际负载值,所述第一负载为所述第二时刻的预测负载值,所述第一预设模型包括所述电源芯片的温度、负载、时刻以及第一对应关系,所述第一对应关系包括所述电源芯片的温度、负载以及时刻之间的对应关系,一个时刻对应一个负载和一个温度; 将所述电源芯片在所述第二时刻的第二实际负载调整为所述第一负载,通过第二预设模型根据所述第一负载预测所述电源芯片的第一输出电压和第一输出电流,所述第二实际负载为所述第二时刻的实际负载值,所述第二预设模型包括所述电源芯片的负载、输出电压、输出电流以及第二对应关系,所述第二对应关系包括所述电源芯片的输出电流、输出电压以及负载之间的对应关系,一个负载对应一个输出电流和一个输出电压; 获取所述电源芯片在所述第二时刻的第二温度、第一实际输出电压和第一实际输出电流,判断第一差值和第二差值是否均在预设范围内,所述第一差值为所述第一实际输出电压与所述第一输出电压的差值,所述第二差值为所述第一实际输出电流与所述第一输出电流的差值; 当所述第一差值和所述第二差值均不在预设范围内时,提示所述电源芯片存在异常的概率为预设第一数值, 当所述第一差值和所述第二差值均在预设范围内时,通过所述第一预设模型根据所述第二温度和所述第一负载预测所述电源芯片在第三时刻的第二负载,所述第三时刻为所述第二时刻的下一时刻; 将所述电源芯片在所述第三时刻的第三实际负载调整为所述第二负载,通过所述第二预设模型根据所述第二负载预测所述电源芯片的第二输出电压和第二输出电流; 获取所述电源芯片在所述第三时刻的第二实际输出电压和第二实际输出电流,判断第三差值和第四差值是否均在预设范围内,所述第三差值为所述第二实际输出电压与所述第二输出电压的差值,所述第四差值为所述第二实际输出电流与所述第二输出电流的差值; 当所述第三差值和所述第四差值均不在所述预设范围内时,提示所述电源芯片存在异常的概率为预设第二数值,所述预设第二数值大于所述预设第一数值, 当所述第一差值在所述预设范围内且所述第二差值不在所述预设范围内,或者所述第一差值不在所述预设范围内且所述第二差值在所述预设范围内时,控制所述电源芯片的温度为所述第二温度,控制所述电源芯片的负载为所述第一负载,连续测量多个时刻对应的第三实际输出电压和第三实际输出电流; 计算多个所述第三实际输出电压的第一平均值,并计算多个所述第三实际输出电流的第二平均值,并判断所述第一平均值和所述第二平均值是否均在所述预设范围内; 当所述第一平均值和所述第二平均值均不在所述预设范围内时,提示所述电源芯片存在异常的概率为预设第三数值,所述预设第三数值大于所述预设第一数值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人深圳市诚芯微科技股份有限公司,其通讯地址为:518000 广东省深圳市龙岗区南湾街道下李朗社区布澜路31号李朗国际珠宝产业园厂房一A3栋601;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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